梶原 誠司 | 九州工業大学:jst Crest

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概要

• 梶原 誠司の詳細を見る
• 同名の論文著者
• 九州工業大学:jst Crestの論文著者

関連著者

• 梶原 誠司

  九州工業大学:jst Crest

• 梶原 誠司

  九州工業大学情報工学部電子情報工学科

• Kajihara S

  Kyushu Inst. Technol. Iizuka‐shi Jpn

• 宮瀬 紘平

  九州工業大学:jst Crest

• 宮瀬 紘平

  九州工業大学

• 温 暁青

  九州工業大学

• 梶原 誠司

  九州工業大学情報工学部電子情報工学科:九州工業大学マイクロ化総合技術センタ

• 梶原 誠司

  九州工業大学情報工学部電子情報工学科:九州工業大学マイクロ化システムセンター

• Kajihara Seiji

  Faculty Of Computer Science And Systems Engineering Kyushu Institute Of Technology

• レディ スダーカ

  アイオワ大学

• 温 暁青

  九州工業大学:jst Crest

• 佐藤 康夫

  九州工業大学:jst Crest

• 大和 勇太

  九州工業大学大学院情報工学研究院

• ポメランツ イリス

  School of Electrical and Computer Engineering, Purdue University

• ポメランツ イリス

  School Of Electrical And Computer Engineering Purdue University

• 佐藤 康夫

  九州工業大学

• 宮瀬 紘平

  科学技術振興機構

• 樹下 行三

  大阪学院大 情報

• 谷口 謙二郎

  九州工業大学情報工学部電子情報工学科

• Li Lei

  デューク大学

• Chakrabarty K

  デューク大学

• 谷口 謙二郎

  九州工業大学大学院情報工学研究科

• Chakrabarty Krishnendu

  デューク大学

• 土井 康稔

  九州工業大学

• WEN Xiaoqing

  Kyushu Institute of Technology

• レディ スダーカ

  アイオワ大学 電気コンピュータ学科

• スダーカ M.レディ

  アイオワ大学電気コンピュータ学科

• Miyase K

  Kyushu Institute Of Technology

• Miyase Kohei

  Faculty Of Computer Science And Systems Engineering Kyushu Institute Of Technology

• Xiaoqing Wen

  Department Of Information Engineering Mining College Akita University

• 鈴木 達也

  九州工業大学情報工学部

• 古川 寛

  九州工業大学大学院情報工学研究院

• ポメランツ イリス

  アイオワ大学電気コンピュータ学科

• 岩崎 一彦

  東京都立大学大学院工学研究科

• 村上 敦

  九州工業大学 情報工学部 電子情報工学科

• 永山 忍

  広島市立大学大学院情報科学研究科

• YAMATO Yuta

  Kyushu Institute of Technology

• 浅川 毅

  東海大学

• 永山 忍

  九州工業大学

• 浅川 毅

  東京都立大学工学研究科電気工学専攻

• Yamashita Yoshiyuki

  Densotechno Co.

• 笹尾 勤

  九州工業大学情報工学部

• 樋上 喜信

  愛媛大学工学部情報工学科

• 高松 雄三

  愛媛大学

• 三浦 幸也

  首都大学東京

• 樋上 喜信

  愛媛大学大学院

• 笹尾 勤

  九州工業大学 情報工学部 マイクロ化総合技術センター

• 高松 雄三

  愛媛大学工学部

• 福本 聡

  東京都立大学大学院工学研究科

• 高松 雄三

  愛媛大学工学部情報工学科

• 市原 英行

  広島市立大学情報科学部

• MIYASE Kohei

  Kyushu Institute of Technology

• FURUKAWA Hiroshi

  Kyushu Institute of Technology

• 猿渡 慶太郎

  九州工業大学情報工学部電子情報工学科

• 市野 憲一

  東京都立大学

• レディー スダカー

  Electrical and Computer Engineering Department, University of Iowa

• レディー スダカー

  Electrical And Computer Engineering Department University Of Iowa

• WEN Xiaoqing

  Faculty of Computer Science and Systems Engineering, Kyushu Institute of Technology

• 皆本 義弘

  科学技術振興機構

• 浜田 周治

  株式会社半導体理工学センター

• 福永 昌勉

  株式会社半導体理工学センター

• 樹下 行三

  大阪大学大学院工学研究科応用物理専攻

• 市野 憲一

  東京都立大学大学院工学研究科

• Saluja Kewal

  Univ. Wisconsin‐madison Usa

• Wen Xiaoqing

  Faculty Of Computer Science And Systems Engineering Kyushu Institute Of Technology

• Kajihara Seiji

  Kyushu Insteitute Of Technology

• Kajihara Seiji

  Faculty Of Engineering Osaka University

• 前田 敏行

  株式会社半導体理工学センター

• 松薗 誠

  九州工業大学大学院情報工学府情報システム専攻

• 三浦 幸也

  首都大学東京システムデザイン学部

• 山口 久登

  九州工業大学大学院情報工学府情報システム専攻:独立行政法人科学技術振興機構crest

• 松薗 誠

  九州工業大学大学院情報工学府情報システム専攻:独立行政法人科学技術振興機構crest

• 小林 真也

  愛媛大学工学部

• 小林 真也

  愛媛大学 工学部

• 小林 真也

  愛媛大学大学院理工学研究科

• 宮崎 慎二

  九州工業大学情報工学部電子情報工学科

• WANG Laung-Terng

  SynTest

• 竹岡 貞巳

  松下電器産業株式会社半導体社開発本部システムLSI技術統括部

• 斎藤 貴之

  東京都立大学工学研究科電気工学専攻

• 塔ノ上 義章

  九州工業大学情報工学部

• 高嶋 敦之

  九州工業大学大学院情報工学研究院

• 福澤 友晶

  九州工業大学情報工学部

• 樹下 行三

  大阪大学工学部応用物理学科

• Saluja Kewal

  Department Of Electrical And Computer Engineering University Of Wisconsin-madison

• MIYASE Kohei

  Faculty of Computer Science and Systems Engineering, Kyushu Institute of Technology

• 樹下 行三

  大阪大学工学部

• 松永 裕介

  九州大学大学院システム情報科学研究院

• SALUJA KEWAL

  Department of Electrical and Computer Engineering, University of Wisconsin-Madison

• 吉村 正義

  九州大学大学院システム情報科学研究院

• 市原 英行

  広島市立大学大学院情報科学研究科

• 中村 優介

  パナソニックCCソフト株式会社

• KAJIHARA Seiji

  Kyushu Institute of Technology

• GIRARD Patrick

  LIRMM

• 野田 光政

  九州工業大学大学院情報工学府

• 宮瀬 鉱平

  九州工業大学大学院情報工学研究院

• レディ スダーカ

  Electrical and Computer Engineering Department, University of Iowa

• 真田 克

  Necエレクトロニクス

• 森島 翔平

  九州工業大学

• 樹下 行三

  大阪大学 大学院工学研究科

• Hatayama Kazumi

  Starc

• 真田 克

  Necエレクトロニクス株式会社基盤技術開発事業本部テスト評価技術開発事業部

• レディ スダーカ

  アイオワ大学電気コンピュータ学科

• 吉村 正義

  福岡知的クラスター研究所

• 竹岡 貞巳

  松下電器産業株式会社 半導体開発本部

• 竹岡 真巳

  松下電器産業株式会社半導体社

• Kinoshita Kozo

  Faculty Of Informatics Osaka Gakuin University

• Kinoshita Kozo

  Faculty Of Engineering Osaka University

• 松永 裕介

  九州大学 大学院システム情報科学研究院 情報工学部門

• 福永 昌勉

  九州工業大学大学院情報工学研究科

• 山口 久登

  九州工業大学大学院情報工学府情報システム専攻

• TAKASHIMA Atsushi

  Kyushu Institute of Technology

• NODA Kenji

  STARC

• ITO Hideaki

  STARC

• AIKYO Takashi

  STARC

• YAMATO Yuta

  Faculty of Computer Science and Systems Engineering, Kyushu Institute of Technology

• 佐藤 康夫

  (株)半導体理工学研究センター

• 浜田 周治

  (株)半導体理工学研究センター

• 前田 敏行

  (株)半導体理工学研究センター

• 高取 厚夫

  (株)半導体理工学研究センター

• 佐藤 康夫

  株式会社半導体理工学センター

• Yamato Yuta

  Faculty Of Computer Science And Systems Engineering Kyushu Institute Of Technology

• 四柳 浩之

  大阪大学大学院工学研究科応用物理学専攻

• 市原 英行

  大阪大学大学院工学研究科応用物理学専攻

• 四柳 浩之

  徳島大学大学院ソシオテクノサイエンス研究部

• 豊田 直哉

  九州工業大学情報工学研究科

• 金本 直之

  東京都立大学大学院工学研究科

• 宮瀬 絋平

  九州工業大学大学院

• 榎元 和成

  九州工業大学

• 畠山 一実

  (株)半導体理工学研究センター

• 相京 隆

  (株)半導体理工学研究センター

• 沼 昌宏

  神戸大学工学研究科

• 玉本 英夫

  秋田大学工学資源学部情報工学科

• 藤原 秀雄

  奈良先端科学技術大学院大学 情報科学研究科

• 樋上 喜信

  大阪大学 大学院工学研究科

• 奥 慎治

  九州工業大学

• 藤原 秀雄

  奈良先端科学技術大学院大学:独立行政法人科学技術振興機構

• 山本 真裕

  九州工業大学

• TEHRANIPOOR Mohammad

  University of Connecticut

• 吉村 慎一

  松下電器産業株式会社半導体社開発本部システムlsi技術統括部

• Reddy S

  Univ. Iowa Usa

• 相京 隆

  半導体理工学研究セ

• 相京 隆

  株式会社半導体理工学研究センター

• 福永 昌勉

  明治大学理工学部情報科学科

• 原口 雅史

  九州工業大学大学院情報工学研究院

• 畠山 一実

  株式会社半導体理工学研究センター

• 太田 光保

  松下電器産業株式会社半導体開発本部

• 中村 優介

  九州工業大学大学院情報工学研究科

• サルージャ K.

  ウィスコンシン大学マディソン校

• SALUJA Kewal

  University of Wisconsin-Madison

• 藤井 秀雄

  九州工業大学大学院情報工学研究科

• ポメランツ イリス

  パドゥ大学 電気コンピュータ工学科

• レディー スダーカ・M.

  アイオワ大学 電気コンピュータ工学科

• レデイ スダーカ

  アイオワ大学電気コンピュータ学科

• 別府 厳

  九州工業大学大学院情報工学府

• イリス ポメランツ

  School of Electrical and Computer Engineering, Purdue University

• スカーダ レディ

  Electrical and Computer Engineering Department, University of Iowa

• 別府 巌

  九州工業大学大学院情報工学府

• 樹下 行三

  大阪学院大学情報学部

• 奥 慎治

  九州工業大学:jst Crest

• 梶原 誠司

  九州工業大学大学院情報工学研究科:九州工業大学マイクロ化総合技術センタ

• イリス ポメランツ

  アイオワ大学電気コンピュータ学科

• イリス ポメランツ

  School Of Electrical And Computer Engineering Purdue University

• レディ スダｰカ

  アイオワ大学

• 宮瀬 紘平

  Kyushu Institute of Technology

• レディ スダーガ

  アイオワ大学

• ポメランツ イリス

  電気コンピュータ工学科, パデュー大学

• レディ スダーカ

  電気コンピュータ工学科, アイオワ大学

• サルージャ ケーワルk.

  Department Of Electrical And Computer Engineering University Of Wisconsin - Madison

• Saluja Kewal

  ウィスコンシン大学

• Saluja Kewal

  ウィスコンシン大学マディソン校

• Saluja Kewal

  Univ. Of Wisconsin-madison Dept. Of Electrical And Computer Engineering

• サルージャ ケワール

  ウィスコンシン大学

• 梶原 誠司

  九州工業大学:独立行政法人科学技術振興機構

• 石田 亘司

  九州工業大学大学院情報工学研究科

• 吉川 篤志

  大阪大学工学研究科応用物理専攻

• TERASHIMA Kenta

  Faculty of Computer Science and Systems Engineering, Kyushu Institute of Technology

• REDDY Sudhakar

  Department of Electrical and Computer Engineering, University of Iowa

• NAKAMURA Yusuke

  Faculty of Computer Science and Systems Engineering, Kyushu Institute of Technology

• 梶原 誠司

  九州工業大学マイクロ化システムセンター

• SUZUKI Tatsuya

  Faculty of Information Sciences, Hiroshima City University

• スカーダ レディ

  Electrical And Computer Engineering Department University Of Iowa

• Saluja Kewal

  ウイスコンシン大学

• 野津山 泰行

  (株)半導体理工学研究センター

• 詫間 茜

  九州工業大学

• 高取 厚夫

  株式会社半導体理工学研究センター

• MIYASE Kohei

  Innovation Plaza Fukuoka, Japan Science and Technology Agency

• BAIK Dong

  Univ. of Wisconsin-Madison, Dept. of Electrical and Computer Engineering

• 市原 英行

  大阪大学工学研究科応用物理学専攻

• 野上 貴一郎

  九州工業大学情報工学部電子情報工学科

• 真田 克

  Necエレクトロニクス 基盤技術開発事業本部

• Baik Dong

  Univ. Of Wisconsin-madison Dept. Of Electrical And Computer Engineering

• 竹原 博明

  九州工業大学 情報工学部 電子情報工学科

• 坂井 僚太

  九州工業大学大学院

• 麻生 正雄

  ルネサスマイクロシステム株式会社

• 古川 寛

  ルネサスマイクロシステム株式会社

• 大和 勇太

  福岡県産業・科学技術振興財団

• Terashima Kenta

  Faculty Of Computer Science And Systems Engineering Kyushu Institute Of Technology

• Suzuki Tatsuya

  Faculty Of Computer Science And Systems Engineering Kyushu Institute Of Technology:(present Office)d

• 内之段 裕太

  九州工業大学

• 大和 勇太

  奈良先端科学技術大学院大学

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著作論文

• 順序回路に対するテスト系列中のドントケア値発見とテスト圧縮・消費電力削減への応用について(LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術, テスト実装, 一般)
• 順序回路に対するテスト系列中のドントケア値発見とテスト圧縮・消費電力削減への応用について
• 部分X分解によるX故障モデルを用いた故障診断手法の高速化(故障モデル・故障許容・故障診断,VLSI設計とテスト及び一般)
• 3値テストパターンに対する遅延テスト品質計算とX割当について(遅延故障テスト,VLSI設計とテスト及び一般)
• ディレイテストにおけるパス選択基準とテストクオリティの評価
• 劣化検知テストにおけるパス選択について(テストII,デザインガイア2009-VLSI設計の新しい大地)
• 劣化検知テストにおけるパス選択について(テストII,デザインガイア2009-VLSI設計の新しい大地-)
• AI-1-7 フィールド高信頼化のための回路・システム機構(AI-1.デイベンダブルVLSIに向けて,依頼シンポジウム,ソサイエティ企画)
• 論理回路の動作環境とトランジスタの劣化特性について(設計/テスト/検証)
• 順序回路用故障シミュレーションにおけるコンパイル方式の適用と効果について(セッション2 : 故障シミュレーションと故障診断, VLSI設計とテスト及び一般)
• ブロードサイドテストにおけるN回検出用テストパターンに対するX判定(デザインガアイ2006-VLSI設計の新しい大地を考える研究会)
• ブロードサイドテストにおけるN回検出用テストパターンに対するX判定(VLSIのテストI,デザインガイア2006-VLSI設計の新しい大地を考える研究会)
• ブロードサイドテストにおけるN回検出用テストパターンに対するX判定(VLSIのテストI,デザインガイア2006-VLSI設計の新しい大地を考える研究会)
• 符号化技術を用いた多重スキャン設計のテストデータ量削減について
• 符号化技術を用いた多重スキャン設計のテストデータ量削減について
• ドントケア判定と符号化によるテストデータ圧縮について
• 二重検出法に基づく故障シミュレーションの高速化について
• 二重検出法に基づく故障シミュレーションの高速化について
• 二重検出法に基づく故障シミュレーションの高速化について
• テスト生成における間接含意の効率的な生成方法(テスト,システム設計及び一般)
• テスト生成における間接含意の効率的な生成方法(テスト,システム設計及び一般)
• LSI回路のX故障によるPer-Test故障診断手法の拡張について(LSIの評価・診断・解析及び,品質)
• 低消費電力テストのための制約付テスト生成手法について(LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術,テスト技術,一般)
• 低消費電力テストのための制約付テスト生成手法について(LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術,テスト技術,一般)
• 低消費電力テストのための制約付テスト生成手法について
• スキャンテストにおけるキャプチャ時の低消費電力化に効果的なテスト集合変更について(VLSIの設計/検証/テスト及び一般(デザインガイア))
• スキャンテストにおけるキャプチャ時の低消費電力化に効果的なテスト集合変更について(VLSIの設計/検証/テスト及び一般(デザインガイア))
• スキャンテストにおけるキャプチャ時の低消費電力化に効果的なテスト集合変更について(VLSIの設計/検証/テスト及び一般(デザインガイア))
• スキャンテストにおけるキャプチャ時の低消費電力化に効果的なテスト集合変更について(VLSIの設計/検証/テスト及び一般(デザインガイア))
• スキャンBISTにおけるマルチサイクルテストと部分観測方式の提案と評価(テスト設計1,デザインガイア2010-VLSI設計の新しい大地-)
• スキャンBISTにおけるマルチサイクルテストと部分観測方式の提案と評価(テスト設計1,デザインガイア2010-VLSI設計の新しい大地-)
• 順序回路に対するテスト系列中のドントケア値発見とテスト圧縮・消費電力削減への応用について(LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術, テスト実装, 一般)
• ショーパスディレイ : 故障モデルとテスト生成
• パス遅延故障におけるパス選択とテスト生成について
• パス遅延故障におけるパス選択とテスト生成について
• パス遅延故障におけるパス選択とテスト生成について
• パス遅延故障のテストにおけるパス選択手法について
• パス遅延故障のテストにおけるパス選択手法について
• 統計的遅延品質モデル(SDQM)のフィージビリティ評価(評価モデル,ディペンダブルコンピューティング論文)
• ブロードサイド方式におけるパス長を考慮した遷移故障用テストパターン生成について(欠陥ベーステスト,VLSI設計とテスト及び一般)
• ディレイ品質を予測する統計的品質モデル(非縮退故障モデルテスト, VLSI 設計とテスト及び一般)
• 超微細 LSI のパス遅延故障に対するテスト圧縮法について(非縮退故障モデルテスト, VLSI 設計とテスト及び一般)
• 信号値遷移削減のためのドントケア判定率の最適化に関する研究(テストI,デザインガイア2009-VLSI設計の新しい大地-)
• 実速度スキャンテストにおけるキャプチャセーフテスト生成手法について(テスト生成,デザインガイア2008-VLSI設計の新しい大地)
• 実速度スキャンテストにおけるキャプチャセーフテスト生成手法について(テスト生成,デザインガイア2008-VLSI設計の新しい大地)
• 実速度スキャンテストにおけるキャプチャセーフテスト生成手法について(テスト生成,デザインガイア2008-VLSI設計の新しい大地-)
• 実速度スキャンテストにおけるキャプチャ時の低消費電力テスト生成手法について(テストと検証,デザインガイア2007-VLSI設計の新しい大地を考える研究会-)
• 実速度スキャンテストにおけるキャプチャ時の低消費電力テスト生成手法について(テストと検証,デザインガイア2007-VLSI設計の新しい大地を考える研究会-)
• 実速度スキャンテストにおけるキャプチャ時の低消費電力テスト生成手法について(テストと検証,デザインガイア2007-VLSI設計の新しい大地を考える研究会-)
• 多重スキャンツリー設計によるテストデータ量・テスト印加時間の削減(テスト容易化設計,システムLSI設計とその技術)
• 遷移遅延故障に対する高品質テスト生成手法について(セッション3 : テスト生成, VLSI設計とテスト及び一般)
• テスト系列短縮のための部分的並列なスキャンチェーンの構成法
• ドントケア判定と符号化によるテストデータ圧縮について
• ドントケア判定と符号化によるテストデータ圧縮について
• 信号値遷移削減のためのドントケア判定率の最適化に関する研究(テストI,デザインガイア2009-VLSI設計の新しい大地)
• BIST指向n検出TPGの提案
• BIST指向 n検出 TPGの提案
• BIST指向n検出TPGの提案
• トランジション故障に対するテストパターンの極小化手法について
• トランジション故障に対するテストパターンの極小化手法について
• 入力ベクトルからの信号値を正当化する最小キューブ抽出(テスト設計)(VLSIの設計/検証/テスト及び一般)(デザインガイア2004-VLSI設計の新しい大地を考える研究会)
• 入力ベクトルからの信号値を正当化する最小キューブ抽出(テスト設計)(VLSIの設計/検証/テスト及び一般)(デザインガイア2004-VLSI設計の新しい大地を考える研究会-)
• 入力ベクトルからの信号値を正当化する最小キューブ抽出(テスト設計)(VLSIの設計/検証/テスト及び一般)(デザインガイア2004-VLSI設計の新しい大地を考える研究会-)
• 入力ベクトルからの信号値を正当化する最小キューブ抽出(テスト設計)(VLSIの設計/検証/テスト及び一般)(デザインガイア2004-VLSI設計の新しい大地を考える研究会-)
• High Launch Switching Activity Reduction in At-Speed Scan Testing Using CTX : A Clock-Gating-Based Test Relaxation and X-Filling Scheme
• 論理回路に対するテスト実行時間削減法
• LC-3 テストパターン中の特定ビットにおけるドントケア判定法について(C. アーキテクチャ・ハードウェア)
• 入力ベクトルからの信号値を正当化する最小キューブ抽出
• 入力ベクトルからの信号値を正当化する最小キュｰブ抽出
• 多重スキャンツリー設計によるテスト圧縮手法(VLSIの設計/検証/テスト及び一般テスト)
• 多重スキャンツリー設計によるテスト圧縮手法(VLSIの設計/検証/テスト及び一般 テスト)(デザインガイア2003 -VLSI設計の新しい大地を考える研究会-)
• 多重スキャンツリー設計によるテスト圧縮手法(VLSIの設計/検証/テスト及び一般 テスト)(デザインガイア2003 -VLSI設計の新しい大地を考える研究会-)
• 多重スキャンツリー設計によるテスト圧縮手法(VLSIの設計/検証/テスト及び一般 テスト)(デザインガイア2003 -VLSI設計の新しい大地を考える研究会-)
• 多重スキャンツリー設計によるテスト圧縮手法
• フィールド高信頼化のためのアプローチ(LSIのテスト・評価技術)
• 中間故障電圧値を扱う故障シミュレーションの高速化について
• 故障診断のための観測性の定量化について(LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術, テスト実装, 一般)
• 故障診断のための観測性の定量化について(LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術, テスト実装, 一般)
• 論理回路における遅延テスト不要パスの高速導出法 (テストと設計検証論文特集)
• パス遅延故障のテストのためのロバスト依存パスの識別法
• 静的学習における効率的な間接含意の発見と保存について
• 静的学習における効率的な間接含意の発見と保存について
• 静的学習における効率的な間接含意の発見と保存について
• スキャン極性調節とピンポイントテスト変換によるテスト圧縮(テスト設計)(VLSIの設計/検証/テスト及び一般)(デザインガイア2004-VLSI設計の新しい大地を考える研究会)
• スキャン極性調節とピンポイントテスト変換によるテスト圧縮(テスト設計)(VLSIの設計/検証/テスト及び一般)(デザインガイア2004-VLSI設計の新しい大地を考える研究会-)
• スキャン極性調節とピンポイントテスト変換によるテスト圧縮(テスト設計)(VLSIの設計/検証/テスト及び一般)(デザインガイア2004-VLSI設計の新しい大地を考える研究会-)
• スキャン極性調節とピンポイントテスト変換によるテスト圧縮(テスト設計)(VLSIの設計/検証/テスト及び一般)(デザインガイア2004-VLSI設計の新しい大地を考える研究会-)
• ランレングス符号とピンポイントテストパターン変換によるテストデータ量削減(VLSIの設計/検証/テスト及び一般テスト)
• ランレングス符号とピンポイントテストパターン変換によるテストデータ量削減(VLSIの設計/検証/テスト及び一般 テスト)(デザインガイア2003 -VLSI設計の新しい大地を考える研究会-)
• ランレングス符号とピンポイントテストパターン変換によるテストデータ量削減(VLSIの設計/検証/テスト及び一般 テスト)(デザインガイア2003 -VLSI設計の新しい大地を考える研究会-)
• ランレングス符号とピンポイントテストパターン変換によるテストデータ量削減(VLSIの設計/検証/テスト及び一般 テスト)(デザインガイア2003 -VLSI設計の新しい大地を考える研究会-)
• ランレングス符号とピンポイントテストパターン変換によるテストデータ量削減
• パス遅延故障テストにおける故障検出率の推定法
• A Study of Capture-Safe Test Generation Flow for At-Speed Testing
• On Detection of Bridge Defects with Stuck-at Tests
• A Novel Per-Test Fault Diagnosis Method Based on the Extended X-Fault Model for Deep-Submicron LSI Circuits
• 論理回路に対するテストコスト削減法 : テストデータ量及びテスト実行時間の削減
• A Novel ATPG Method for Capture Power Reduction during Scan Testing(Dependable Computing)
• A Per-Test Fault Diagnosis Method Based on the X-Fault Model(Dependable Computing)
• ゲートレベル組合せ回路の単一論理設計誤りに対する診断手法
• ランダムアクセススキャン : テスト時消費電力,テストデータ量,テスト時開削減法(VLSI設計とテスト)
• テスト数制限下でのテスト入力集合の選択手法について (テストと設計検証論文特集)
• 到達不能状態に基づく順序回路の冗長除去手法
• テスト生成の静的学習における間接含意の習得法について
• D-10-7 BIST指向n検出テストパターンの圧縮法
• ディレイ故障を検出するBIST用テストパターン発生回路
• ディレイ故障を検出するBIST用テストパターン発生回路
• 実速度スキャンテストベクトルに対する遷移タイミング考慮キャプチャ安全性判定(低消費電力テスト・メモリテスト,VLSI設計とテスト及び一般)
• 部分回路除去に対する含意関係の不変性について
• 到達不能状態を用いた順序回路の冗長除去
• テストパターン中のドントケアの発見手法について
• テストベクトル変換手法を用いた低消費電力LOS実速度テスト(設計/テスト/検証)
• A GA-Based X-Filling for Reducing Launch Switching Activity toward Specific Objectives in At-Speed Scan Testing
• Distribution-Controlled X-Identification for Effective Reduction of Launch-Induced IR-Drop in At-Speed Scan Testing
• 遺伝的アルゴリズムを用いたテスト圧縮について
• 論理回路のテストパターンに含まれるドントケアの判定法について
• 論理回路のテストパターンに含まれるドントケアの判走法について
• マルチサイクルテスト構造を用いたキャプチャ電力の低減(テスト設計2,デザインガイア2011-VLSI設計の新しい大地-)
• マルチサイクルテスト構造を用いたキャプチャ電力の低減(テスト設計2,デザインガイア2011-VLSI設計の新しい大地-)
• パターンマージングによる遷移遅延故障用テストのパス遅延故障検出能力向上手法(低消費電力・遅延テスト・高精度欠陥推定,VLSI設計とテスト及び一般)
• フィールドテストのための温度・電圧推定回路の試作評価(ばらつき・フィールドテスト,VLSI設計とテスト及び一般)
• 低電力BISTにおけるシフトトグル率低減手法について(低消費電力・遅延テスト・高精度欠陥推定,VLSI設計とテスト及び一般)
• マルチサイクルBISTにおけるスキャン出力の電力低減手法 (ディペンダブルコンピューティング)
• ネットリストを用いたドントケアビット数の見積り手法に関する研究 (ディペンダブルコンピューティング)
• ネットリストを用いたドントケアビット数の見積り手法に関する研究(テスト,デザインガイア2012-VLSI設計の新しい大地-)
• マルチサイクルBISTにおけるスキャン出力の電力低減手法(テスト,デザインガイア2012-VLSI設計の新しい大地-)

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