論理回路のテストパターンに含まれるドントケアの判走法について
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概要
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論理回路のテストパターンを構成する論理値には, 逆の値に置き換えても故障検出率に影響を与えないものがある.そのような入力値は, ドントケア(以下, Xと表す)と見なすことができる.本論文では, ATPGアルゴリズムの含意操作・正当化操作と同様の処理を用いて, 与えられたテスト集合に含まれるドントケアをできるだけ多く見つける手法を提案する.ISCASベンチマーク回路に対する実験では, 本手法は圧縮されていないテスト集合の約66%の入力がXとなり, また, 圧縮されたテスト集合であっても平均47%のXとなることを示す.本手法は, SoCのテストにおける諸問題を解決するための種々の手法に応用できるが, 本論文の最後に, 本手法を用いたテストパターン変換の応用について議論する.
- 一般社団法人電子情報通信学会の論文
- 2001-11-22
著者
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