スキャンBISTにおけるマルチサイクルテストと部分観測方式の提案と評価(テスト設計1,デザインガイア2010-VLSI設計の新しい大地-)
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概要
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フィールドでの自己テスト(BIST)ではテストパターン情報をチップ内に保持する必要があるため,テストデータ量を極力少なくすることが重要である.本研究では,スキャンベースのBIST構造における故障検出率向上とテストデータ量削減を目的に,各テストパターンに対して複数回のキャプチャクロック発生によるマルチサイクルテストを行い,各回のクロックでフリップフロップにキャプチャされた値を部分的に観測可能にすることで,通常のスキャンベースBISTよりもテスト性を向上する構造を提案する.観測するフリップフロップの選択方法およびそれらの数と検出率向上効果の相関関係を報告する.
- 2010-11-22
著者
-
梶原 誠司
九州工業大学情報工学部電子情報工学科
-
佐藤 康夫
九州工業大学
-
梶原 誠司
九州工業大学:jst Crest
-
佐藤 康夫
九州工業大学:jst Crest
-
梶原 誠司
九州工業大学情報工学部電子情報工学科:九州工業大学マイクロ化システムセンター
-
梶原 誠司
九州工業大学情報工学部電子情報工学科:九州工業大学マイクロ化総合技術センタ
-
Kajihara S
Kyushu Inst. Technol. Iizuka‐shi Jpn
-
山口 久登
九州工業大学大学院情報工学府情報システム専攻
-
松薗 誠
九州工業大学大学院情報工学府情報システム専攻
-
Kajihara Seiji
Faculty Of Computer Science And Systems Engineering Kyushu Institute Of Technology
-
山口 久登
九州工業大学大学院情報工学府情報システム専攻:独立行政法人科学技術振興機構crest
-
松薗 誠
九州工業大学大学院情報工学府情報システム専攻:独立行政法人科学技術振興機構crest
-
山口 久登
九州工業大学:独立行政法人科学技術振興機構crest
-
梶原 誠司
九州工業大学
-
松薗 誠
九州工業大学:独立行政法人科学技術振興機構crest
-
松薗 誠
九州工業大学
-
山口 久登
九州工業大学
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