佐藤 康夫 | 九州工業大学
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概要
関連著者
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佐藤 康夫
九州工業大学
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梶原 誠司
九州工業大学
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宮瀬 紘平
九州工業大学
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佐藤 康夫
九州工業大学:jst Crest
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梶原 誠司
九州工業大学:jst Crest
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宮瀬 絋平
九州工業大学大学院情報工学研究院電子情報工学研究系:独立行政法人科学技術振興機構crest
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三浦 幸也
首都大学東京
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梶原 誠司
九州工業大学情報工学部電子情報工学科:九州工業大学マイクロ化システムセンター
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梶原 誠司
九州工業大学情報工学部電子情報工学科:九州工業大学マイクロ化総合技術センタ
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Kajihara S
Kyushu Inst. Technol. Iizuka‐shi Jpn
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Kajihara Seiji
Faculty Of Computer Science And Systems Engineering Kyushu Institute Of Technology
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宮瀬 紘平
九州工業大学:jst Crest
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梶原 誠司
九州工業大学情報工学部電子情報工学科
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三宅 庸資
九州工業大学:独立行政法人科学技術振興機構CREST
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松薗 誠
九州工業大学
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山口 久登
九州工業大学
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温 暁青
九州工業大学
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王 森レイ
九州工業大学大学院情報工学府情報システム専攻
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三浦 幸也
首都大学東京システムデザイン学部情報通信システム工学コース:独立行政法人科学技術振興機構crest
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王 森レイ
九州工業大学:独立行政法人科学技術振興機構CREST
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温 暁青
九州工業大学:jst Crest
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松薗 誠
九州工業大学大学院情報工学府情報システム専攻
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山口 久登
九州工業大学大学院情報工学府情報システム専攻:独立行政法人科学技術振興機構crest
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松薗 誠
九州工業大学大学院情報工学府情報システム専攻:独立行政法人科学技術振興機構crest
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山口 久登
九州工業大学:独立行政法人科学技術振興機構crest
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松薗 誠
九州工業大学:独立行政法人科学技術振興機構crest
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三浦 幸也
首都大学東京システムデザイン学部
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三宅 庸資
九州工業大学大学院情報工学府情報システム専攻
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加藤 隆明
九州工業大学情報工学部電子情報工学科
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加藤 隆明
九州工業大学情報工学部電子情報工学科:独立行政法人科学技術振興機構crest
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加藤 隆明
九州工業大学:独立行政法人科学技術振興機構CREST
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佐藤 康夫
九州工業大学:独立行政法人科学技術振興機構CREST
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津森 渉
九州工業大学
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山崎 浩二
明治大学情報コミュニケーション学部
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高松 雄三
愛媛大学理工学研究科電子情報工学専攻
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高橋 寛
愛媛大学大学院理工学研究科
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樋上 喜信
愛媛大学大学院
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野田 光政
九州工業大学大学院情報工学府
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原口 雅史
九州工業大学大学院情報工学研究院
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山口 久登
九州工業大学大学院情報工学府情報システム専攻
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宮瀬 絋平
九州工業大学大学院
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三浦 幸也
首都大学東京システムデザイン学部情報通信システム工学コース
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梶原 誠司
九州工業大学大学院情報工学研究院電子情報工学研究系
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笹川 琢磨
九州工業大学大学院情報工学府情報システム専攻
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原口 雅史
九州工業大学大学院 情報工学研究院
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樋上 喜信
愛媛大学大学院理工学研究科
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奥 慎治
九州工業大学
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高松 雄三
愛媛大学
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山崎 浩二
明治大学
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高橋 寛
愛媛大学大学院
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宮瀬 鉱平
九州工業大学大学院情報工学研究院
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佐藤 康夫
九州工業大学大学院情報工学研究院
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奥 慎治
九州工業大学:jst Crest
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高橋 寛
山形大 工
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Takahashi Hiroshi
The Authors Are With The Faculty Of Engineering Ehime University
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王 森レイ
九州工業大学大学院情報工学府情報システム専攻:独立行政法人科学技術振興機構crest
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佐藤 康夫
九州工業大学大学院情報工学研究院電子情報工学研究系:独立行政法人科学技術振興機構crest
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温 暁青
九州工業大学大学院 情報工学研究院
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佐藤 康夫
九州工業大学大学院 情報工学研究院
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佐藤 康夫
九州工業大学大学院情報工学研究院電子情報工学研究系
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梶原 誠司
九州工業大学大学院情報工学研究院電子情報工学研究系:独立行政法人科学技術振興機構CREST
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梶原 誠司
九州工業大学:独立行政法人科学技術振興機構CREST
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梶原 誠司
九州工業大学大学院 情報工学研究院
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宮瀬 紘平
九州工業大学:独立行政法人科学技術振興機構CREST
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宮瀬 紘平
九州工業大学大学院 情報工学研究院
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宮瀬 紘平
九州工業大学大学院情報工学研究院電子情報工学研究系
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宮瀬 絋平
九州工業大学大学院情報工学研究院電子情報工学研究系
-
笹川 琢磨
九州工業大学大学院情報工学府情報システム専攻:独立行政法人科学技術振興機構CREST
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津森 渉
九州工業大学:独立行政法人科学技術振興機構CREST
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三浦 幸也
首都大学東京:独立行政法人科学技術振興機構CREST
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梶原 誠司
九州工業大学:独立行政法人科学技術振興機構 CREST
-
三浦 幸也
首都大学東京:独立行政法人科学技術振興機構 CREST
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佐藤 康夫
九州工業大学:独立行政法人科学技術振興機構 CREST
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津森 渉
九州工業大学:独立行政法人科学技術振興機構 CREST
著作論文
- 3値テストパターンに対する遅延テスト品質計算とX割当について(遅延故障テスト,VLSI設計とテスト及び一般)
- 論理回路の故障診断法 : 外部出力応答に基づく故障箇所指摘法の発展(ディペンダブルコンピューティング)
- 劣化検知テストにおけるパス選択について(テストII,デザインガイア2009-VLSI設計の新しい大地)
- 劣化検知テストにおけるパス選択について(テストII,デザインガイア2009-VLSI設計の新しい大地-)
- 論理回路の動作環境とトランジスタの劣化特性について(設計/テスト/検証)
- スキャンBISTにおけるマルチサイクルテストと部分観測方式の提案と評価(テスト設計1,デザインガイア2010-VLSI設計の新しい大地-)
- スキャンBISTにおけるマルチサイクルテストと部分観測方式の提案と評価(テスト設計1,デザインガイア2010-VLSI設計の新しい大地-)
- フィールド高信頼化のためのアプローチ(LSIのテスト・評価技術)
- 論理回路の故障診断法 : 外部出力応答に基づく故障箇所指摘法の発展
- マルチサイクルテスト構造を用いたキャプチャ電力の低減(テスト設計2,デザインガイア2011-VLSI設計の新しい大地-)
- マルチサイクルテスト構造を用いたキャプチャ電力の低減(テスト設計2,デザインガイア2011-VLSI設計の新しい大地-)
- フィールドテストのための温度・電圧推定回路の試作評価(ばらつき・フィールドテスト,VLSI設計とテスト及び一般)
- 低電力BISTにおけるシフトトグル率低減手法について(低消費電力・遅延テスト・高精度欠陥推定,VLSI設計とテスト及び一般)
- フィールドテストのための温度・電圧推定回路の試作評価
- マルチサイクルテスト構造を用いたキャプチャ電力の低減
- マルチサイクルテスト構造を用いたキャプチャ電力の低減
- 低電力BISTにおけるシフトトグル率低減手法について
- 論理回路の動作環境とトランジスタの劣化特性について
- リングオシレータ利用モニタ回路によるチップ内温度・電圧の試作評価とフィールドテストへの活用検討(設計/テスト/検証)
- 論理BISTの電力低減手法と評価(設計/テスト/検証)
- マルチサイクルBISTにおけるスキャン出力の電力低減手法(テスト,デザインガイア2012-VLSI設計の新しい大地-)
- マルチサイクルBISTにおけるスキャン出力の電力低減手法(テスト,デザインガイア2012-VLSI設計の新しい大地-)
- フィールドテストのための温度・電圧モニタ回路構成の検討(テスト,デザインガイア2012-VLSI設計の新しい大地-)
- フィールドテストのための温度・電圧モニタ回路構成の検討(テスト,デザインガイア2012-VLSI設計の新しい大地-)
- モニタ回路による製造バラツキを考慮した温度・電圧推定手法(フィールトテストと許容故障判定, VLSI設計とテスト及び一般)
- フィールドにおけるLSI劣化テストの可能性に関する一考察(設計/テスト/検証)
- リングオシレータ利用モニタ回路によるチップ内温度・電圧の試作評価とフィールドテストへの活用検討