モニタ回路による製造バラツキを考慮した温度・電圧推定手法(フィールトテストと許容故障判定, VLSI設計とテスト及び一般)
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概要
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VLSIの微細化に伴い,劣化による回路遅延の増加が問題となっている 劣化による遅延の増加を検出するにはフィールドテストで高精度な遅延測定を行うことが有効であるが,その際には,温度や電圧の遅延への影響を考慮する必要がある チップ内の温度と電圧は,リングオシレータで構成される温度・電圧モニタ回路を用いて推定する方法が提案されている モニタ回路における製造プロセスのバラツキはリングオシレータの周波数に大きな影響を及ぼすため,高精度な温度・電圧推定を行うには製造バラツキの影響を考慮する必要がある.本論文では,製造バラツキが温度・電圧推定に与える影響を低減するため,モニタ回路における製造バラツキの影響を考慮した温度・電圧推定手法について述べる.
- 一般社団法人電子情報通信学会の論文
- 2013-02-06
著者
-
佐藤 康夫
九州工業大学
-
三浦 幸也
首都大学東京
-
梶原 誠司
九州工業大学
-
三宅 庸資
九州工業大学:独立行政法人科学技術振興機構CREST
-
津森 渉
九州工業大学
-
梶原 誠司
九州工業大学:独立行政法人科学技術振興機構 CREST
-
三浦 幸也
首都大学東京:独立行政法人科学技術振興機構 CREST
-
佐藤 康夫
九州工業大学:独立行政法人科学技術振興機構 CREST
-
津森 渉
九州工業大学:独立行政法人科学技術振興機構 CREST
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