符号化技術を用いた多重スキャン設計のテストデータ量削減について
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概要
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本論文では,多重スキャン設計に対するテストデータ量削減手法を提案する.提案手法は2段階でデータ圧縮を実現する.最初に,ATPGで生成したテスト集合を符号化し,多重スキャンに印加するスキャンインのテスト入力数を削減する.次に,符号化したテスト集合のデータ量を,統計符号化技術によりさらに削減し,それぞれのテストピンに印加するスキャンインベクトル長を削減する.統計的符号化ではハフマン符号を用いる.スキャンインベクトル長の削減により,テストロード時間とテストデータ量が削減される.ISCAS-89ベンチマーク回路に対する実験結果では,提案手法が,圧縮テスト集合のテストデータ量を平均21.5%に削減できることを示す.
- 2002-11-27
著者
-
梶原 誠司
九州工業大学情報工学部電子情報工学科
-
宮瀬 紘平
九州工業大学
-
宮瀬 紘平
九州工業大学:jst Crest
-
谷口 謙二郎
九州工業大学情報工学部電子情報工学科
-
ポメランツ イリス
School of Electrical and Computer Engineering, Purdue University
-
レディー スダカー
Electrical and Computer Engineering Department, University of Iowa
-
レディー スダカー
Electrical And Computer Engineering Department University Of Iowa
-
梶原 誠司
九州工業大学:jst Crest
-
谷口 謙二郎
九州工業大学大学院情報工学研究科
-
ポメランツ イリス
School Of Electrical And Computer Engineering Purdue University
-
梶原 誠司
九州工業大学
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