マルチサイクルテスト構造を用いたキャプチャ電力の低減(テスト設計2,デザインガイア2011-VLSI設計の新しい大地-)
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概要
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組込み自己テスト(BIST)では,テスト時の消費電力が通常動作時より多いため,電圧降下による誤動作や,発熱による性能劣化を引き起こす問題がある.筆者らは,スキャンテストあるいはスキャンベースBISTにおいてキャプチャ時に複数回クロック信号を発生し,各クロックにおいて一部のFF値を観測することでテスト効率を向上させる手法を提案しているが,本論文では,この構造のもとでキャプチャ時の消費電力を,故障検出率の低下なしに低減する手法を提案する.
- 2011-11-21
著者
-
佐藤 康夫
九州工業大学
-
宮瀬 紘平
九州工業大学
-
宮瀬 紘平
九州工業大学:jst Crest
-
梶原 誠司
九州工業大学:jst Crest
-
佐藤 康夫
九州工業大学:jst Crest
-
梶原 誠司
九州工業大学情報工学部電子情報工学科:九州工業大学マイクロ化システムセンター
-
梶原 誠司
九州工業大学情報工学部電子情報工学科:九州工業大学マイクロ化総合技術センタ
-
Kajihara S
Kyushu Inst. Technol. Iizuka‐shi Jpn
-
松薗 誠
九州工業大学大学院情報工学府情報システム専攻
-
Kajihara Seiji
Faculty Of Computer Science And Systems Engineering Kyushu Institute Of Technology
-
山口 久登
九州工業大学大学院情報工学府情報システム専攻:独立行政法人科学技術振興機構crest
-
松薗 誠
九州工業大学大学院情報工学府情報システム専攻:独立行政法人科学技術振興機構crest
-
山口 久登
九州工業大学:独立行政法人科学技術振興機構crest
-
梶原 誠司
九州工業大学
-
宮瀬 絋平
九州工業大学大学院情報工学研究院電子情報工学研究系:独立行政法人科学技術振興機構crest
-
松薗 誠
九州工業大学:独立行政法人科学技術振興機構crest
-
松薗 誠
九州工業大学
-
山口 久登
九州工業大学
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