テストベクトル変換手法を用いた低消費電力LOS実速度テスト(設計/テスト/検証)
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概要
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LSIの実速度テスト方式の一つであるLOS方式に対する低消費電力テスト手法を提案する.本稿では,X判定技術とX割当技術を用いることで,テストデータ量の増加や故障検出能力の低下がなく,消費電力の高いテストベクトルを消費電力の低いテストベクトルに変換する.ITC'99ベンチマーク回路に対する実験では,提案手法が従来手法より消費電力を削減できることを示す.
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2011-06-17
著者
-
宮瀬 紘平
九州工業大学
-
温 暁青
九州工業大学
-
大和 勇太
九州工業大学大学院情報工学研究院
-
宮瀬 紘平
九州工業大学:jst Crest
-
GIRARD Patrick
LIRMM
-
梶原 誠司
九州工業大学:jst Crest
-
梶原 誠司
九州工業大学情報工学部電子情報工学科:九州工業大学マイクロ化システムセンター
-
梶原 誠司
九州工業大学情報工学部電子情報工学科:九州工業大学マイクロ化総合技術センタ
-
Kajihara S
Kyushu Inst. Technol. Iizuka‐shi Jpn
-
Kajihara Seiji
Faculty Of Computer Science And Systems Engineering Kyushu Institute Of Technology
-
内之段 裕太
九州工業大学
-
榎元 和成
九州工業大学
-
大和 勇太
奈良先端科学技術大学院大学
-
Wu Fangmei
LIRMM-University of Montpellier II/CNRS
-
Dilillo Luigi
LIRMM-University of Montpellier II/CNRS
-
Bosio Alberto
LIRMM-University of Montpellier II/CNRS
-
Virazel Arnaud
LIRMM-University of Montpellier II/CNRS
-
Girard Patrick
Lirmm-university Of Montpellier Ii/cnrs
-
梶原 誠司
九州工業大学
-
宮瀬 絋平
九州工業大学大学院情報工学研究院電子情報工学研究系:独立行政法人科学技術振興機構crest
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