温 暁青 | 九州工業大学
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概要
関連著者
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温 暁青
九州工業大学
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梶原 誠司
九州工業大学
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梶原 誠司
九州工業大学:jst Crest
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梶原 誠司
九州工業大学情報工学部電子情報工学科
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宮瀬 紘平
九州工業大学
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宮瀬 紘平
九州工業大学:jst Crest
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宮瀬 絋平
九州工業大学大学院情報工学研究院電子情報工学研究系:独立行政法人科学技術振興機構crest
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Kajihara S
Kyushu Inst. Technol. Iizuka‐shi Jpn
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梶原 誠司
九州工業大学情報工学部電子情報工学科:九州工業大学マイクロ化システムセンター
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梶原 誠司
九州工業大学情報工学部電子情報工学科:九州工業大学マイクロ化総合技術センタ
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温 暁青
九州工業大学:jst Crest
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大和 勇太
九州工業大学大学院情報工学研究院
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Kajihara Seiji
Faculty Of Computer Science And Systems Engineering Kyushu Institute Of Technology
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宮瀬 紘平
科学技術振興機構
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鈴木 達也
九州工業大学情報工学部
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古川 寛
九州工業大学大学院情報工学研究院
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永山 忍
広島市立大学大学院情報科学研究科
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レディ スダーカ
アイオワ大学
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佐藤 康夫
九州工業大学:jst Crest
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永山 忍
九州工業大学
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佐藤 康夫
九州工業大学
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三浦 幸也
首都大学東京
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谷口 謙二郎
九州工業大学情報工学部電子情報工学科
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Li Lei
デューク大学
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Chakrabarty K
デューク大学
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皆本 義弘
科学技術振興機構
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谷口 謙二郎
九州工業大学大学院情報工学研究科
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Chakrabarty Krishnendu
デューク大学
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土井 康稔
九州工業大学
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Li L
Graduate Univ. For Advanced Studies Tokyo Jpn
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塔ノ上 義章
九州工業大学情報工学部
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高嶋 敦之
九州工業大学大学院情報工学研究院
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福澤 友晶
九州工業大学情報工学部
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三浦 幸也
首都大学東京システムデザイン学部
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榎元 和成
九州工業大学
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三浦 幸也
首都大学東京システムデザイン学部情報通信システム工学コース:独立行政法人科学技術振興機構crest
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中村 優介
パナソニックCCソフト株式会社
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野田 光政
九州工業大学大学院情報工学府
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宮瀬 鉱平
九州工業大学大学院情報工学研究院
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原口 雅史
九州工業大学大学院情報工学研究院
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真田 克
Necエレクトロニクス
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浜田 周治
株式会社半導体理工学センター
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森島 翔平
九州工業大学
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福永 昌勉
株式会社半導体理工学センター
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真田 克
Necエレクトロニクス株式会社基盤技術開発事業本部テスト評価技術開発事業部
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前田 敏行
株式会社半導体理工学センター
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豊田 直哉
九州工業大学情報工学研究科
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田中 広彬
九州工業大学
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原口 雅史
九州工業大学大学院 情報工学研究院
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畠山 一実
(株)半導体理工学研究センター
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相京 隆
(株)半導体理工学研究センター
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玉本 英夫
秋田大学工学資源学部情報工学科
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奥 慎治
九州工業大学
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山本 真裕
九州工業大学
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GIRARD Patrick
LIRMM
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武田 敏秀
(財)福岡県産業・科学技術振興財団
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井上 俊介
(財)福岡県産業・科学技術振興財団
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大野 国弘
(株)なうデータ研究所
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相京 隆
半導体理工学研究セ
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相京 隆
株式会社半導体理工学研究センター
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畠山 一実
株式会社半導体理工学研究センター
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中村 優介
九州工業大学大学院情報工学研究科
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サルージャ K.
ウィスコンシン大学マディソン校
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藤井 秀雄
九州工業大学大学院情報工学研究科
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別府 厳
九州工業大学大学院情報工学府
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温 暁青
九州工業大学情報工学研究院
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別府 巌
九州工業大学大学院情報工学府
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樹下 行三
大阪学院大学情報学部
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奥 慎治
九州工業大学:jst Crest
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レディ スダｰカ
アイオワ大学
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宮瀬 紘平
Kyushu Institute of Technology
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レディ スダーガ
アイオワ大学
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サルージャ ケワール
ウィスコンシン大学
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福永 昌勉
九州工業大学大学院情報工学研究科
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佐藤 康夫
(株)半導体理工学研究センター
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浜田 周治
(株)半導体理工学研究センター
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前田 敏行
(株)半導体理工学研究センター
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詫間 茜
九州工業大学
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佐藤 康夫
株式会社半導体理工学センター
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樹下 行三
大阪学院大 情報
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真田 克
Necエレクトロニクス 基盤技術開発事業本部
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温 暁青
九州工業大学大学院
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坂井 僚太
九州工業大学大学院
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宮瀬 絋平
九州工業大学大学院
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麻生 正雄
ルネサスマイクロシステム株式会社
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古川 寛
ルネサスマイクロシステム株式会社
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大和 勇太
福岡県産業・科学技術振興財団
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宮瀬 紘平
九州工業大学大学院
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内之段 裕太
九州工業大学
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大和 勇太
奈良先端科学技術大学院大学
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Wu Fangmei
LIRMM-University of Montpellier II/CNRS
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Dilillo Luigi
LIRMM-University of Montpellier II/CNRS
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Bosio Alberto
LIRMM-University of Montpellier II/CNRS
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Virazel Arnaud
LIRMM-University of Montpellier II/CNRS
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Girard Patrick
Lirmm-university Of Montpellier Ii/cnrs
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温 暁青
九州工業大学大学院 情報工学研究院
-
佐藤 康夫
九州工業大学大学院 情報工学研究院
-
梶原 誠司
九州工業大学大学院 情報工学研究院
-
宮瀬 紘平
九州工業大学大学院 情報工学研究院
著作論文
- シグナルインテグリティ考慮型LSIテストを目指して(LSIのテスト・評価技術)
- 部分X分解によるX故障モデルを用いた故障診断手法の高速化(故障モデル・故障許容・故障診断,VLSI設計とテスト及び一般)
- 3値テストパターンに対する遅延テスト品質計算とX割当について(遅延故障テスト,VLSI設計とテスト及び一般)
- 知識ベースシステムに基づいたLSIテスト不良原因解析について
- 劣化検知テストにおけるパス選択について(テストII,デザインガイア2009-VLSI設計の新しい大地)
- 劣化検知テストにおけるパス選択について(テストII,デザインガイア2009-VLSI設計の新しい大地-)
- 論理回路の動作環境とトランジスタの劣化特性について(設計/テスト/検証)
- 順序回路用故障シミュレーションにおけるコンパイル方式の適用と効果について(セッション2 : 故障シミュレーションと故障診断, VLSI設計とテスト及び一般)
- ブロードサイドテストにおけるN回検出用テストパターンに対するX判定(デザインガアイ2006-VLSI設計の新しい大地を考える研究会)
- ブロードサイドテストにおけるN回検出用テストパターンに対するX判定(VLSIのテストI,デザインガイア2006-VLSI設計の新しい大地を考える研究会)
- ブロードサイドテストにおけるN回検出用テストパターンに対するX判定(VLSIのテストI,デザインガイア2006-VLSI設計の新しい大地を考える研究会)
- LSI回路のX故障によるPer-Test故障診断手法の拡張について(LSIの評価・診断・解析及び,品質)
- 低消費電力テストのための制約付テスト生成手法について(LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術,テスト技術,一般)
- 低消費電力テストのための制約付テスト生成手法について(LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術,テスト技術,一般)
- 低消費電力テストのための制約付テスト生成手法について
- スキャンテストにおけるキャプチャ時の低消費電力化に効果的なテスト集合変更について(VLSIの設計/検証/テスト及び一般(デザインガイア))
- スキャンテストにおけるキャプチャ時の低消費電力化に効果的なテスト集合変更について(VLSIの設計/検証/テスト及び一般(デザインガイア))
- スキャンテストにおけるキャプチャ時の低消費電力化に効果的なテスト集合変更について(VLSIの設計/検証/テスト及び一般(デザインガイア))
- スキャンテストにおけるキャプチャ時の低消費電力化に効果的なテスト集合変更について(VLSIの設計/検証/テスト及び一般(デザインガイア))
- ブロードサイド方式におけるパス長を考慮した遷移故障用テストパターン生成について(欠陥ベーステスト,VLSI設計とテスト及び一般)
- 超微細 LSI のパス遅延故障に対するテスト圧縮法について(非縮退故障モデルテスト, VLSI 設計とテスト及び一般)
- 信号値遷移削減のためのドントケア判定率の最適化に関する研究(テストI,デザインガイア2009-VLSI設計の新しい大地-)
- 実速度スキャンテストにおけるキャプチャセーフテスト生成手法について(テスト生成,デザインガイア2008-VLSI設計の新しい大地)
- 実速度スキャンテストにおけるキャプチャセーフテスト生成手法について(テスト生成,デザインガイア2008-VLSI設計の新しい大地)
- 実速度スキャンテストにおけるキャプチャセーフテスト生成手法について(テスト生成,デザインガイア2008-VLSI設計の新しい大地-)
- 実速度スキャンテストにおけるキャプチャ時の低消費電力テスト生成手法について(テストと検証,デザインガイア2007-VLSI設計の新しい大地を考える研究会-)
- 実速度スキャンテストにおけるキャプチャ時の低消費電力テスト生成手法について(テストと検証,デザインガイア2007-VLSI設計の新しい大地を考える研究会-)
- 実速度スキャンテストにおけるキャプチャ時の低消費電力テスト生成手法について(テストと検証,デザインガイア2007-VLSI設計の新しい大地を考える研究会-)
- 遷移遅延故障に対する高品質テスト生成手法について(セッション3 : テスト生成, VLSI設計とテスト及び一般)
- 信号値遷移削減のためのドントケア判定率の最適化に関する研究(テストI,デザインガイア2009-VLSI設計の新しい大地)
- 入力ベクトルからの信号値を正当化する最小キューブ抽出(テスト設計)(VLSIの設計/検証/テスト及び一般)(デザインガイア2004-VLSI設計の新しい大地を考える研究会)
- 入力ベクトルからの信号値を正当化する最小キューブ抽出(テスト設計)(VLSIの設計/検証/テスト及び一般)(デザインガイア2004-VLSI設計の新しい大地を考える研究会-)
- 入力ベクトルからの信号値を正当化する最小キューブ抽出(テスト設計)(VLSIの設計/検証/テスト及び一般)(デザインガイア2004-VLSI設計の新しい大地を考える研究会-)
- 入力ベクトルからの信号値を正当化する最小キューブ抽出(テスト設計)(VLSIの設計/検証/テスト及び一般)(デザインガイア2004-VLSI設計の新しい大地を考える研究会-)
- 入力ベクトルからの信号値を正当化する最小キューブ抽出
- 入力ベクトルからの信号値を正当化する最小キュｰブ抽出
- 中間故障電圧値を扱う故障シミュレーションの高速化について
- 故障診断のための観測性の定量化について(LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術, テスト実装, 一般)
- 故障診断のための観測性の定量化について(LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術, テスト実装, 一般)
- スキャン極性調節とピンポイントテスト変換によるテスト圧縮(テスト設計)(VLSIの設計/検証/テスト及び一般)(デザインガイア2004-VLSI設計の新しい大地を考える研究会)
- スキャン極性調節とピンポイントテスト変換によるテスト圧縮(テスト設計)(VLSIの設計/検証/テスト及び一般)(デザインガイア2004-VLSI設計の新しい大地を考える研究会-)
- スキャン極性調節とピンポイントテスト変換によるテスト圧縮(テスト設計)(VLSIの設計/検証/テスト及び一般)(デザインガイア2004-VLSI設計の新しい大地を考える研究会-)
- スキャン極性調節とピンポイントテスト変換によるテスト圧縮(テスト設計)(VLSIの設計/検証/テスト及び一般)(デザインガイア2004-VLSI設計の新しい大地を考える研究会-)
- 実速度スキャンテストベクトルに対する遷移タイミング考慮キャプチャ安全性判定(低消費電力テスト・メモリテスト,VLSI設計とテスト及び一般)
- テストベクトル変換手法を用いた低消費電力LOS実速度テスト(設計/テスト/検証)
- パターンマージングによる遷移遅延故障用テストのパス遅延故障検出能力向上手法(低消費電力・遅延テスト・高精度欠陥推定,VLSI設計とテスト及び一般)
- ネットリストを用いたドントケアビット数の見積り手法に関する研究 (ディペンダブルコンピューティング)
- パターンマージングによる遷移遅延故障用テストのパス遅延故障検出能力向上手法
- 論理回路の動作環境とトランジスタの劣化特性について
- ネットリストを用いたドントケアビット数の見積り手法に関する研究(テスト,デザインガイア2012-VLSI設計の新しい大地-)
- ネットリストを用いたドントケアビット数の見積り手法に関する研究(テスト,デザインガイア2012-VLSI設計の新しい大地-)