温 暁青 | 九州工業大学:jst Crest

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概要

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関連著者

• 温 暁青

  九州工業大学

• 温 暁青

  九州工業大学:jst Crest

• 梶原 誠司

  九州工業大学情報工学部電子情報工学科

• 梶原 誠司

  九州工業大学:jst Crest

• Kajihara S

  Kyushu Inst. Technol. Iizuka‐shi Jpn

• 梶原 誠司

  九州工業大学情報工学部電子情報工学科:九州工業大学マイクロ化システムセンター

• 梶原 誠司

  九州工業大学情報工学部電子情報工学科:九州工業大学マイクロ化総合技術センタ

• 梶原 誠司

  九州工業大学

• 宮瀬 紘平

  九州工業大学:jst Crest

• 宮瀬 紘平

  九州工業大学

• 宮瀬 絋平

  九州工業大学大学院情報工学研究院電子情報工学研究系:独立行政法人科学技術振興機構crest

• 大和 勇太

  九州工業大学大学院情報工学研究院

• Kajihara Seiji

  Faculty Of Computer Science And Systems Engineering Kyushu Institute Of Technology

• 古川 寛

  九州工業大学大学院情報工学研究院

• 佐藤 康夫

  九州工業大学

• 宮瀬 紘平

  科学技術振興機構

• 佐藤 康夫

  九州工業大学:jst Crest

• 三浦 幸也

  首都大学東京

• 鈴木 達也

  九州工業大学情報工学部

• 塔ノ上 義章

  九州工業大学情報工学部

• 高嶋 敦之

  九州工業大学大学院情報工学研究院

• 福澤 友晶

  九州工業大学情報工学部

• 三浦 幸也

  首都大学東京システムデザイン学部

• 三浦 幸也

  首都大学東京システムデザイン学部情報通信システム工学コース:独立行政法人科学技術振興機構crest

• 中村 優介

  パナソニックCCソフト株式会社

• 野田 光政

  九州工業大学大学院情報工学府

• 宮瀬 鉱平

  九州工業大学大学院情報工学研究院

• 谷口 謙二郎

  九州工業大学情報工学部電子情報工学科

• 谷口 謙二郎

  九州工業大学大学院情報工学研究科

• 畠山 一実

  (株)半導体理工学研究センター

• 相京 隆

  (株)半導体理工学研究センター

• 奥 慎治

  九州工業大学

• 山本 真裕

  九州工業大学

• 相京 隆

  半導体理工学研究セ

• 相京 隆

  株式会社半導体理工学研究センター

• 原口 雅史

  九州工業大学大学院情報工学研究院

• 畠山 一実

  株式会社半導体理工学研究センター

• 中村 優介

  九州工業大学大学院情報工学研究科

• サルージャ K.

  ウィスコンシン大学マディソン校

• 藤井 秀雄

  九州工業大学大学院情報工学研究科

• 別府 厳

  九州工業大学大学院情報工学府

• 森島 翔平

  九州工業大学

• 福永 昌勉

  株式会社半導体理工学センター

• 別府 巌

  九州工業大学大学院情報工学府

• 奥 慎治

  九州工業大学:jst Crest

• 原口 雅史

  九州工業大学大学院 情報工学研究院

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著作論文

• シグナルインテグリティ考慮型LSIテストを目指して(LSIのテスト・評価技術)
• 部分X分解によるX故障モデルを用いた故障診断手法の高速化(故障モデル・故障許容・故障診断,VLSI設計とテスト及び一般)
• 3値テストパターンに対する遅延テスト品質計算とX割当について(遅延故障テスト,VLSI設計とテスト及び一般)
• 劣化検知テストにおけるパス選択について(テストII,デザインガイア2009-VLSI設計の新しい大地)
• 劣化検知テストにおけるパス選択について(テストII,デザインガイア2009-VLSI設計の新しい大地-)
• 論理回路の動作環境とトランジスタの劣化特性について(設計/テスト/検証)
• 順序回路用故障シミュレーションにおけるコンパイル方式の適用と効果について(セッション2 : 故障シミュレーションと故障診断, VLSI設計とテスト及び一般)
• ブロードサイドテストにおけるN回検出用テストパターンに対するX判定(デザインガアイ2006-VLSI設計の新しい大地を考える研究会)
• LSI回路のX故障によるPer-Test故障診断手法の拡張について(LSIの評価・診断・解析及び,品質)
• 低消費電力テストのための制約付テスト生成手法について(LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術,テスト技術,一般)
• 低消費電力テストのための制約付テスト生成手法について(LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術,テスト技術,一般)
• 低消費電力テストのための制約付テスト生成手法について
• 信号値遷移削減のためのドントケア判定率の最適化に関する研究(テストI,デザインガイア2009-VLSI設計の新しい大地-)
• 実速度スキャンテストにおけるキャプチャセーフテスト生成手法について(テスト生成,デザインガイア2008-VLSI設計の新しい大地)
• 実速度スキャンテストにおけるキャプチャセーフテスト生成手法について(テスト生成,デザインガイア2008-VLSI設計の新しい大地)
• 実速度スキャンテストにおけるキャプチャセーフテスト生成手法について(テスト生成,デザインガイア2008-VLSI設計の新しい大地-)
• 実速度スキャンテストにおけるキャプチャ時の低消費電力テスト生成手法について(テストと検証,デザインガイア2007-VLSI設計の新しい大地を考える研究会-)
• 実速度スキャンテストにおけるキャプチャ時の低消費電力テスト生成手法について(テストと検証,デザインガイア2007-VLSI設計の新しい大地を考える研究会-)
• 実速度スキャンテストにおけるキャプチャ時の低消費電力テスト生成手法について(テストと検証,デザインガイア2007-VLSI設計の新しい大地を考える研究会-)
• 遷移遅延故障に対する高品質テスト生成手法について(セッション3 : テスト生成, VLSI設計とテスト及び一般)
• 信号値遷移削減のためのドントケア判定率の最適化に関する研究(テストI,デザインガイア2009-VLSI設計の新しい大地)

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