LSI回路のX故障によるPer-Test故障診断手法の拡張について(LSIの評価・診断・解析及び,品質)
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概要
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LSIの微細化・高速化により,欠陥の振舞いは複雑化し,複数の欠陥が回路内に生じることが増えてきた.このような回路を精確に診断するためにX故障モデルによるPer-Test診断手法が提案されている.しかし、微細化LSIの特徴でもある,ビア,バッファの存在,閾値電圧の順序関係などには対応していなかった.本論文ではこれらの問題を解決するために,ビア,バッファを考慮したX故障モデル,閾値電圧の順序関係を考慮した診断値計算手法をX故障によるPer-Test診断手法に導入し,実験結果によって有効性を示す.
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2007-09-07
著者
-
梶原 誠司
九州工業大学情報工学部電子情報工学科
-
宮瀬 紘平
九州工業大学
-
温 暁青
九州工業大学
-
中村 優介
パナソニックCCソフト株式会社
-
大和 勇太
九州工業大学大学院情報工学研究院
-
宮瀬 紘平
九州工業大学:jst Crest
-
温 暁青
九州工業大学:jst Crest
-
梶原 誠司
九州工業大学:jst Crest
-
中村 優介
九州工業大学大学院情報工学研究科
-
サルージャ K.
ウィスコンシン大学マディソン校
-
梶原 誠司
九州工業大学情報工学部電子情報工学科:九州工業大学マイクロ化システムセンター
-
梶原 誠司
九州工業大学情報工学部電子情報工学科:九州工業大学マイクロ化総合技術センタ
-
Kajihara S
Kyushu Inst. Technol. Iizuka‐shi Jpn
-
梶原 誠司
九州工業大学
-
宮瀬 絋平
九州工業大学大学院情報工学研究院電子情報工学研究系:独立行政法人科学技術振興機構crest
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