多重スキャンツリー設計によるテスト圧縮手法(VLSIの設計/検証/テスト及び一般テスト)
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概要
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本論文では,テスト圧縮を目的とした多重スキャン設計手法を提案する.提案手法は,通常のスキャンチェーンの代わりに,与えられたテストパターンに基づいて,スキャンフリップフロップを本状に構成する.テストデータ量とテスト印加時間は,最大の高さのスキャンツリーによって決まるので,そのスキャンツリーの高さを削減するようにスキャンフリップフロップを配置する.さらに,提案手法はテスト圧縮の効果を高めるためのテストベクトル変換を行う. ISCAS-89ベンチマーク回路に対する実験結果では,提案手法は通常の多重スキャン設計によるテストデータ量をフフ%削減した.スキャンツリーを用いるとスキャン出力数が増加するが,スキャン出力数を制限した場合でも,通常の多重スキャン設計のテストデータ量を62%削減できた.
- 一般社団法人情報処理学会の論文
- 2003-11-27
著者
-
梶原 誠司
九州工業大学情報工学部電子情報工学科
-
宮瀬 紘平
九州工業大学
-
宮瀬 紘平
九州工業大学:jst Crest
-
レディ スダーカ
アイオワ大学
-
梶原 誠司
九州工業大学:jst Crest
-
梶原 誠司
九州工業大学
-
宮瀬 絋平
九州工業大学大学院情報工学研究院電子情報工学研究系:独立行政法人科学技術振興機構crest
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