ランレングス符号とピンポイントテストパターン変換によるテストデータ量削減(VLSIの設計/検証/テスト及び一般 テスト)(デザインガイア2003 -VLSI設計の新しい大地を考える研究会-)

スポンサーリンク

概要

著者

関連論文

もっと見る

スポンサーリンク