ディレイ品質を予測する統計的品質モデル(非縮退故障モデルテスト, VLSI 設計とテスト及び一般)
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概要
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製造プロセス品質、設計遅延マージン及びテストタイミング精度を反映した品質評価手法を提案する。本手法を用いることで、テスト後のチップに対する遅延を原因とする欠陥レベルを予測することが可能となる。これにより、低コスト・高品質なテストパターンの作成が可能となる。ISCAS89ベンチマーク回路と大規模実品種による評価結果により本手法の様々な特性とその有効性を示す。
- 2005-02-11
著者
-
梶原 誠司
九州工業大学情報工学部電子情報工学科
-
梶原 誠司
九州工業大学:jst Crest
-
佐藤 康夫
九州工業大学:jst Crest
-
浜田 周治
株式会社半導体理工学センター
-
前田 敏行
株式会社半導体理工学センター
-
高取 厚夫
(株)半導体理工学研究センター
-
佐藤 康夫
株式会社半導体理工学センター
-
高取 厚夫
株式会社半導体理工学研究センター
-
梶原 誠司
九州工業大学
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