佐藤 康夫 | 株式会社半導体理工学センター

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概要

• 同名の論文著者
• 株式会社半導体理工学センターの論文著者

関連著者

• 梶原 誠司

  九州工業大学情報工学部電子情報工学科

• 梶原 誠司

  九州工業大学:jst Crest

• 佐藤 康夫

  九州工業大学:jst Crest

• 浜田 周治

  株式会社半導体理工学センター

• 前田 敏行

  株式会社半導体理工学センター

• 佐藤 康夫

  株式会社半導体理工学センター

• 梶原 誠司

  九州工業大学

• 温 暁青

  九州工業大学

• 森島 翔平

  九州工業大学

• Kajihara S

  Kyushu Inst. Technol. Iizuka‐shi Jpn

• 高取 厚夫

  (株)半導体理工学研究センター

• 詫間 茜

  九州工業大学

• 高取 厚夫

  株式会社半導体理工学研究センター

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著作論文

• ブロードサイド方式におけるパス長を考慮した遷移故障用テストパターン生成について(欠陥ベーステスト,VLSI設計とテスト及び一般)
• ディレイ品質を予測する統計的品質モデル(非縮退故障モデルテスト, VLSI 設計とテスト及び一般)

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