ブロードサイド方式におけるパス長を考慮した遷移故障用テストパターン生成について(欠陥ベーステスト,VLSI設計とテスト及び一般)
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概要
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製造プロセスの微細化とチップの高速化に伴い,微小な遅延を起こす欠陥の増加による歩留まり低下が問題になっている.本論文では,微小な遅延の増加による遷移故障を検出するテストパターンの生成手法を提案する.提案手法は信号値変化が長いパスを通るようにテストパターンを生成する.テスト生成アルゴリズムの特徴は,励起・伝搬のどちらかに特化した2種類のアルゴリズムを用意し,故障毎にそのどちらを適用するか判断することにある.本論文では,最後にベンチマーク回路による評価結果により提案手法の効果を示す.
- 2006-02-10
著者
-
梶原 誠司
九州工業大学情報工学部電子情報工学科
-
温 暁青
九州工業大学
-
梶原 誠司
九州工業大学:jst Crest
-
佐藤 康夫
九州工業大学:jst Crest
-
浜田 周治
株式会社半導体理工学センター
-
森島 翔平
九州工業大学
-
Kajihara S
Kyushu Inst. Technol. Iizuka‐shi Jpn
-
前田 敏行
株式会社半導体理工学センター
-
詫間 茜
九州工業大学
-
佐藤 康夫
株式会社半導体理工学センター
-
梶原 誠司
九州工業大学
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