ランダムアクセススキャン : テスト時消費電力,テストデータ量,テスト時開削減法(VLSI設計とテスト)
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概要
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スキャン設計への強い依存により,多少大きな代償を払ってでもより大きな恩恵を得られるような他のテスト容易化技新開発は妨げられてきた.本論文では,テスト時消費電力,テストデータ量,テスト時間のすべてを同時に削減するためのランダムアクセススキャンの利用を検討する.提案手法では,ランダムアクセススキャンとそのテストデータを最小化する問題を,非対称巡回セールスマン問題に置き挨えて考える.その結果,ベンチマーク回路に対しては,テスト時間は3倍高速に,テストデー夕景は60%削試し,テスト時の消費電力は99%以上低減させることができた.
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2004-02-13
著者
-
梶原 誠司
九州工業大学情報工学部電子情報工学科
-
梶原 誠司
九州工業大学:jst Crest
-
サルージャ ケーワルk.
Department Of Electrical And Computer Engineering University Of Wisconsin - Madison
-
Saluja Kewal
Univ. Wisconsin‐madison Usa
-
Saluja Kewal
ウィスコンシン大学
-
Saluja Kewal
ウィスコンシン大学マディソン校
-
Saluja Kewal
Univ. Of Wisconsin-madison Dept. Of Electrical And Computer Engineering
-
Saluja Kewal
ウイスコンシン大学
-
BAIK Dong
Univ. of Wisconsin-Madison, Dept. of Electrical and Computer Engineering
-
Baik Dong
Univ. Of Wisconsin-madison Dept. Of Electrical And Computer Engineering
-
梶原 誠司
九州工業大学
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