フィールド高信頼化のためのアプローチ(<特集>LSIのテスト・評価技術)
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概要
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VLSIの高機能化と高性能化,また製造プロセスの微細化とともに,性能の劣化現象が着目されている.システムに組み込まれたVLSIがフィールドで性能劣化を進行させる中で,その劣化を事前に検知し,障害発生による事故を予防することが重要な課題となりつつある.本論文ではVLSIの劣化に着目して,システムの高信頼化を実現するアプローチについて,最新の研究開発動向を解説・展望する.
- 2009-10-01
著者
-
梶原 誠司
九州工業大学情報工学部電子情報工学科
-
佐藤 康夫
九州工業大学
-
梶原 誠司
九州工業大学:jst Crest
-
佐藤 康夫
九州工業大学:jst Crest
-
梶原 誠司
九州工業大学情報工学部電子情報工学科:九州工業大学マイクロ化システムセンター
-
梶原 誠司
九州工業大学情報工学部電子情報工学科:九州工業大学マイクロ化総合技術センタ
-
Kajihara S
Kyushu Inst. Technol. Iizuka‐shi Jpn
-
Kajihara Seiji
Faculty Of Computer Science And Systems Engineering Kyushu Institute Of Technology
-
梶原 誠司
九州工業大学
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