ブロードサイドテストにおけるN回検出用テストパターンに対するX判定(VLSIのテストI,デザインガイア2006-VLSI設計の新しい大地を考える研究会)
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概要
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DSM技術の進歩により,遅延故障テストの重要性が増している.遅延故障の検出をより確実にするには,各故障を複数回検出するN回検出テストパターンが有効である.しかしN回検出用テストパターンで行う遷移遅延テストは,テストパターン数が増加するため,テストコストの増加が問題となる.その解決策として,テストパターン中にドントケアを判定し,チスト圧縮に利用することが,有効である.本論文では,ブロードサイドテストを前提とした遷移遅延故障用N回検出テストパターンのドントケア判定を行う手法を提案する.ベンチマーク回路に対する実験結果では,提案手法がテスト集合中に効果的にドントケアを判定できることを示す.
- 2006-11-21
著者
-
梶原 誠司
九州工業大学情報工学部電子情報工学科
-
宮瀬 紘平
九州工業大学
-
温 暁青
九州工業大学
-
宮瀬 紘平
九州工業大学:jst Crest
-
谷口 謙二郎
九州工業大学情報工学部電子情報工学科
-
梶原 誠司
九州工業大学:jst Crest
-
宮瀬 紘平
科学技術振興機構
-
谷口 謙二郎
九州工業大学大学院情報工学研究科
-
梶原 誠司
九州工業大学情報工学部電子情報工学科:九州工業大学マイクロ化システムセンター
-
梶原 誠司
九州工業大学情報工学部電子情報工学科:九州工業大学マイクロ化総合技術センタ
-
Kajihara S
Kyushu Inst. Technol. Iizuka‐shi Jpn
-
梶原 誠司
九州工業大学
-
宮瀬 絋平
九州工業大学大学院情報工学研究院電子情報工学研究系:独立行政法人科学技術振興機構crest
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