梶原 誠司 | 九州工業大学情報工学部電子情報工学科:九州工業大学マイクロ化総合技術センタ
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概要
関連著者
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梶原 誠司
九州工業大学:jst Crest
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梶原 誠司
九州工業大学情報工学部電子情報工学科:九州工業大学マイクロ化総合技術センタ
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Kajihara S
Kyushu Inst. Technol. Iizuka‐shi Jpn
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梶原 誠司
九州工業大学情報工学部電子情報工学科:九州工業大学マイクロ化システムセンター
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梶原 誠司
九州工業大学
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Kajihara Seiji
Faculty Of Computer Science And Systems Engineering Kyushu Institute Of Technology
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宮瀬 紘平
九州工業大学:jst Crest
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宮瀬 絋平
九州工業大学大学院情報工学研究院電子情報工学研究系:独立行政法人科学技術振興機構crest
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宮瀬 紘平
九州工業大学
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梶原 誠司
九州工業大学情報工学部電子情報工学科
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温 暁青
九州工業大学
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温 暁青
九州工業大学:jst Crest
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大和 勇太
九州工業大学大学院情報工学研究院
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佐藤 康夫
九州工業大学:jst Crest
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佐藤 康夫
九州工業大学
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WEN Xiaoqing
Kyushu Institute of Technology
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Miyase K
Kyushu Institute Of Technology
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Miyase Kohei
Faculty Of Computer Science And Systems Engineering Kyushu Institute Of Technology
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Xiaoqing Wen
Department Of Information Engineering Mining College Akita University
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古川 寛
九州工業大学大学院情報工学研究院
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YAMATO Yuta
Kyushu Institute of Technology
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Yamashita Yoshiyuki
Densotechno Co.
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宮瀬 紘平
科学技術振興機構
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三浦 幸也
首都大学東京
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MIYASE Kohei
Kyushu Institute of Technology
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FURUKAWA Hiroshi
Kyushu Institute of Technology
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谷口 謙二郎
九州工業大学情報工学部電子情報工学科
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WEN Xiaoqing
Faculty of Computer Science and Systems Engineering, Kyushu Institute of Technology
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谷口 謙二郎
九州工業大学大学院情報工学研究科
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Wen Xiaoqing
Faculty Of Computer Science And Systems Engineering Kyushu Institute Of Technology
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Kajihara Seiji
Kyushu Insteitute Of Technology
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Kajihara Seiji
Faculty Of Engineering Osaka University
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松薗 誠
九州工業大学大学院情報工学府情報システム専攻
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山口 久登
九州工業大学大学院情報工学府情報システム専攻:独立行政法人科学技術振興機構crest
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松薗 誠
九州工業大学大学院情報工学府情報システム専攻:独立行政法人科学技術振興機構crest
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Kajihara Seiji
Kyushu Inst. Technol. Iizuka‐shi Jpn
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山口 久登
九州工業大学:独立行政法人科学技術振興機構crest
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松薗 誠
九州工業大学:独立行政法人科学技術振興機構crest
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三浦 幸也
首都大学東京システムデザイン学部情報通信システム工学コース:独立行政法人科学技術振興機構crest
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松薗 誠
九州工業大学
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山口 久登
九州工業大学
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WANG Laung-Terng
SynTest
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高嶋 敦之
九州工業大学大学院情報工学研究院
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福澤 友晶
九州工業大学情報工学部
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Saluja Kewal
Department Of Electrical And Computer Engineering University Of Wisconsin-madison
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Saluja Kewal
Univ. Wisconsin‐madison Usa
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MIYASE Kohei
Faculty of Computer Science and Systems Engineering, Kyushu Institute of Technology
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三浦 幸也
首都大学東京システムデザイン学部
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SALUJA KEWAL
Department of Electrical and Computer Engineering, University of Wisconsin-Madison
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中村 優介
パナソニックCCソフト株式会社
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KAJIHARA Seiji
Kyushu Institute of Technology
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GIRARD Patrick
LIRMM
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野田 光政
九州工業大学大学院情報工学府
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宮瀬 鉱平
九州工業大学大学院情報工学研究院
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鈴木 達也
九州工業大学情報工学部
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塔ノ上 義章
九州工業大学情報工学部
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Hatayama Kazumi
Starc
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Kinoshita Kozo
Faculty Of Informatics Osaka Gakuin University
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Kinoshita Kozo
Faculty Of Engineering Osaka University
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山口 久登
九州工業大学大学院情報工学府情報システム専攻
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TAKASHIMA Atsushi
Kyushu Institute of Technology
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NODA Kenji
STARC
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ITO Hideaki
STARC
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AIKYO Takashi
STARC
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YAMATO Yuta
Faculty of Computer Science and Systems Engineering, Kyushu Institute of Technology
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Yamato Yuta
Faculty Of Computer Science And Systems Engineering Kyushu Institute Of Technology
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宮瀬 絋平
九州工業大学大学院
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榎元 和成
九州工業大学
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Saluja Kewal
Department Of Electrical & Computer Engineering Uw-madison
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王 森レイ
九州工業大学大学院情報工学府情報システム専攻:独立行政法人科学技術振興機構crest
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畠山 一実
(株)半導体理工学研究センター
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相京 隆
(株)半導体理工学研究センター
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奥 慎治
九州工業大学
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山本 真裕
九州工業大学
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TEHRANIPOOR Mohammad
University of Connecticut
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Reddy S
Univ. Iowa Usa
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相京 隆
半導体理工学研究セ
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相京 隆
株式会社半導体理工学研究センター
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原口 雅史
九州工業大学大学院情報工学研究院
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畠山 一実
株式会社半導体理工学研究センター
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中村 優介
九州工業大学大学院情報工学研究科
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サルージャ K.
ウィスコンシン大学マディソン校
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SALUJA Kewal
University of Wisconsin-Madison
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藤井 秀雄
九州工業大学大学院情報工学研究科
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別府 厳
九州工業大学大学院情報工学府
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浜田 周治
株式会社半導体理工学センター
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森島 翔平
九州工業大学
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福永 昌勉
株式会社半導体理工学センター
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別府 巌
九州工業大学大学院情報工学府
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奥 慎治
九州工業大学:jst Crest
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前田 敏行
株式会社半導体理工学センター
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TERASHIMA Kenta
Faculty of Computer Science and Systems Engineering, Kyushu Institute of Technology
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REDDY Sudhakar
Department of Electrical and Computer Engineering, University of Iowa
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NAKAMURA Yusuke
Faculty of Computer Science and Systems Engineering, Kyushu Institute of Technology
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SUZUKI Tatsuya
Faculty of Information Sciences, Hiroshima City University
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佐藤 康夫
(株)半導体理工学研究センター
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浜田 周治
(株)半導体理工学研究センター
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前田 敏行
(株)半導体理工学研究センター
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高取 厚夫
(株)半導体理工学研究センター
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野津山 泰行
(株)半導体理工学研究センター
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MIYASE Kohei
Innovation Plaza Fukuoka, Japan Science and Technology Agency
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坂井 僚太
九州工業大学大学院
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麻生 正雄
ルネサスマイクロシステム株式会社
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古川 寛
ルネサスマイクロシステム株式会社
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大和 勇太
福岡県産業・科学技術振興財団
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Terashima Kenta
Faculty Of Computer Science And Systems Engineering Kyushu Institute Of Technology
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Suzuki Tatsuya
Faculty Of Computer Science And Systems Engineering Kyushu Institute Of Technology:(present Office)d
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内之段 裕太
九州工業大学
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大和 勇太
奈良先端科学技術大学院大学
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Wu Fangmei
LIRMM-University of Montpellier II/CNRS
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Dilillo Luigi
LIRMM-University of Montpellier II/CNRS
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Bosio Alberto
LIRMM-University of Montpellier II/CNRS
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Virazel Arnaud
LIRMM-University of Montpellier II/CNRS
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Nakamura Yusuke
Faculty Of Computer Science And Systems Engineering Kyushu Institute Of Technology
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YAMATO Yuta
Fukuoka Industry, Science & Technology Foundation
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Girard Patrick
Lirmm-university Of Montpellier Ii/cnrs
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三宅 庸資
九州工業大学大学院情報工学府情報システム専攻
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加藤 隆明
九州工業大学情報工学部電子情報工学科
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王 森レイ
九州工業大学大学院情報工学府情報システム専攻
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田中 広彬
九州工業大学
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加藤 隆明
九州工業大学情報工学部電子情報工学科:独立行政法人科学技術振興機構crest
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王 森レイ
九州工業大学:独立行政法人科学技術振興機構CREST
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加藤 隆明
九州工業大学:独立行政法人科学技術振興機構CREST
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原口 雅史
九州工業大学大学院 情報工学研究院
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三宅 庸資
九州工業大学:独立行政法人科学技術振興機構CREST
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YAMATO Yuta
Fukuoka Industry Science Technology Foundation
著作論文
- 部分X分解によるX故障モデルを用いた故障診断手法の高速化(故障モデル・故障許容・故障診断,VLSI設計とテスト及び一般)
- 3値テストパターンに対する遅延テスト品質計算とX割当について(遅延故障テスト,VLSI設計とテスト及び一般)
- 劣化検知テストにおけるパス選択について(テストII,デザインガイア2009-VLSI設計の新しい大地)
- 劣化検知テストにおけるパス選択について(テストII,デザインガイア2009-VLSI設計の新しい大地-)
- 論理回路の動作環境とトランジスタの劣化特性について(設計/テスト/検証)
- 順序回路用故障シミュレーションにおけるコンパイル方式の適用と効果について(セッション2 : 故障シミュレーションと故障診断, VLSI設計とテスト及び一般)
- ブロードサイドテストにおけるN回検出用テストパターンに対するX判定(デザインガアイ2006-VLSI設計の新しい大地を考える研究会)
- ブロードサイドテストにおけるN回検出用テストパターンに対するX判定(VLSIのテストI,デザインガイア2006-VLSI設計の新しい大地を考える研究会)
- ブロードサイドテストにおけるN回検出用テストパターンに対するX判定(VLSIのテストI,デザインガイア2006-VLSI設計の新しい大地を考える研究会)
- LSI回路のX故障によるPer-Test故障診断手法の拡張について(LSIの評価・診断・解析及び,品質)
- 低消費電力テストのための制約付テスト生成手法について(LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術,テスト技術,一般)
- 低消費電力テストのための制約付テスト生成手法について(LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術,テスト技術,一般)
- スキャンBISTにおけるマルチサイクルテストと部分観測方式の提案と評価(テスト設計1,デザインガイア2010-VLSI設計の新しい大地-)
- スキャンBISTにおけるマルチサイクルテストと部分観測方式の提案と評価(テスト設計1,デザインガイア2010-VLSI設計の新しい大地-)
- 統計的遅延品質モデル(SDQM)のフィージビリティ評価(評価モデル,ディペンダブルコンピューティング論文)
- 信号値遷移削減のためのドントケア判定率の最適化に関する研究(テストI,デザインガイア2009-VLSI設計の新しい大地-)
- 実速度スキャンテストにおけるキャプチャセーフテスト生成手法について(テスト生成,デザインガイア2008-VLSI設計の新しい大地)
- 実速度スキャンテストにおけるキャプチャセーフテスト生成手法について(テスト生成,デザインガイア2008-VLSI設計の新しい大地)
- 実速度スキャンテストにおけるキャプチャセーフテスト生成手法について(テスト生成,デザインガイア2008-VLSI設計の新しい大地-)
- 実速度スキャンテストにおけるキャプチャ時の低消費電力テスト生成手法について(テストと検証,デザインガイア2007-VLSI設計の新しい大地を考える研究会-)
- 実速度スキャンテストにおけるキャプチャ時の低消費電力テスト生成手法について(テストと検証,デザインガイア2007-VLSI設計の新しい大地を考える研究会-)
- 実速度スキャンテストにおけるキャプチャ時の低消費電力テスト生成手法について(テストと検証,デザインガイア2007-VLSI設計の新しい大地を考える研究会-)
- 遷移遅延故障に対する高品質テスト生成手法について(セッション3 : テスト生成, VLSI設計とテスト及び一般)
- 信号値遷移削減のためのドントケア判定率の最適化に関する研究(テストI,デザインガイア2009-VLSI設計の新しい大地)
- High Launch Switching Activity Reduction in At-Speed Scan Testing Using CTX : A Clock-Gating-Based Test Relaxation and X-Filling Scheme
- フィールド高信頼化のためのアプローチ(LSIのテスト・評価技術)
- A Study of Capture-Safe Test Generation Flow for At-Speed Testing
- On Detection of Bridge Defects with Stuck-at Tests
- A Novel Per-Test Fault Diagnosis Method Based on the Extended X-Fault Model for Deep-Submicron LSI Circuits
- A Novel ATPG Method for Capture Power Reduction during Scan Testing(Dependable Computing)
- A Per-Test Fault Diagnosis Method Based on the X-Fault Model(Dependable Computing)
- 実速度スキャンテストベクトルに対する遷移タイミング考慮キャプチャ安全性判定(低消費電力テスト・メモリテスト,VLSI設計とテスト及び一般)
- テストベクトル変換手法を用いた低消費電力LOS実速度テスト(設計/テスト/検証)
- A GA-Based X-Filling for Reducing Launch Switching Activity toward Specific Objectives in At-Speed Scan Testing
- Distribution-Controlled X-Identification for Effective Reduction of Launch-Induced IR-Drop in At-Speed Scan Testing
- マルチサイクルテスト構造を用いたキャプチャ電力の低減(テスト設計2,デザインガイア2011-VLSI設計の新しい大地-)
- マルチサイクルテスト構造を用いたキャプチャ電力の低減(テスト設計2,デザインガイア2011-VLSI設計の新しい大地-)
- パターンマージングによる遷移遅延故障用テストのパス遅延故障検出能力向上手法(低消費電力・遅延テスト・高精度欠陥推定,VLSI設計とテスト及び一般)
- フィールドテストのための温度・電圧推定回路の試作評価(ばらつき・フィールドテスト,VLSI設計とテスト及び一般)
- 低電力BISTにおけるシフトトグル率低減手法について(低消費電力・遅延テスト・高精度欠陥推定,VLSI設計とテスト及び一般)
- マルチサイクルBISTにおけるスキャン出力の電力低減手法 (ディペンダブルコンピューティング)
- ネットリストを用いたドントケアビット数の見積り手法に関する研究 (ディペンダブルコンピューティング)