王 森レイ | 九州工業大学大学院情報工学府情報システム専攻
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概要
関連著者
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佐藤 康夫
九州工業大学
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梶原 誠司
九州工業大学
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宮瀬 絋平
九州工業大学大学院情報工学研究院電子情報工学研究系:独立行政法人科学技術振興機構crest
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王 森レイ
九州工業大学大学院情報工学府情報システム専攻
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王 森レイ
九州工業大学:独立行政法人科学技術振興機構CREST
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宮瀬 紘平
九州工業大学
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佐藤 康夫
九州工業大学:jst Crest
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加藤 隆明
九州工業大学情報工学部電子情報工学科
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加藤 隆明
九州工業大学情報工学部電子情報工学科:独立行政法人科学技術振興機構crest
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加藤 隆明
九州工業大学:独立行政法人科学技術振興機構CREST
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梶原 誠司
九州工業大学:jst Crest
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宮瀬 絋平
九州工業大学大学院
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宮瀬 紘平
九州工業大学:jst Crest
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梶原 誠司
九州工業大学情報工学部電子情報工学科:九州工業大学マイクロ化システムセンター
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梶原 誠司
九州工業大学情報工学部電子情報工学科:九州工業大学マイクロ化総合技術センタ
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Kajihara S
Kyushu Inst. Technol. Iizuka‐shi Jpn
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Kajihara Seiji
Faculty Of Computer Science And Systems Engineering Kyushu Institute Of Technology
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王 森レイ
九州工業大学大学院情報工学府情報システム専攻:独立行政法人科学技術振興機構crest
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佐藤 康夫
九州工業大学大学院情報工学研究院電子情報工学研究系
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梶原 誠司
九州工業大学:独立行政法人科学技術振興機構CREST
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梶原 誠司
九州工業大学大学院情報工学研究院電子情報工学研究系
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宮瀬 紘平
九州工業大学:独立行政法人科学技術振興機構CREST
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宮瀬 絋平
九州工業大学大学院情報工学研究院電子情報工学研究系
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佐藤 康夫
九州工業大学:独立行政法人科学技術振興機構CREST
著作論文
- 低電力BISTにおけるシフトトグル率低減手法について(低消費電力・遅延テスト・高精度欠陥推定,VLSI設計とテスト及び一般)
- 低電力BISTにおけるシフトトグル率低減手法について
- 論理BISTの電力低減手法と評価(設計/テスト/検証)
- マルチサイクルBISTにおけるスキャン出力の電力低減手法(テスト,デザインガイア2012-VLSI設計の新しい大地-)
- マルチサイクルBISTにおけるスキャン出力の電力低減手法(テスト,デザインガイア2012-VLSI設計の新しい大地-)