Kajihara S | Kyushu Inst. Technol. Iizuka‐shi Jpn

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概要

• 同名の論文著者
• Kyushu Inst. Technol. Iizuka‐shi Jpnの論文著者

関連著者

• Kajihara S

  Kyushu Inst. Technol. Iizuka‐shi Jpn

• 梶原 誠司

  九州工業大学:jst Crest

• 梶原 誠司

  九州工業大学情報工学部電子情報工学科:九州工業大学マイクロ化総合技術センタ

• 梶原 誠司

  九州工業大学

• 梶原 誠司

  九州工業大学情報工学部電子情報工学科:九州工業大学マイクロ化システムセンター

• 梶原 誠司

  九州工業大学情報工学部電子情報工学科

• 宮瀬 紘平

  九州工業大学:jst Crest

• Kajihara Seiji

  Faculty Of Computer Science And Systems Engineering Kyushu Institute Of Technology

• 温 暁青

  九州工業大学

• 宮瀬 絋平

  九州工業大学大学院情報工学研究院電子情報工学研究系:独立行政法人科学技術振興機構crest

• 宮瀬 紘平

  九州工業大学

• 温 暁青

  九州工業大学:jst Crest

• 大和 勇太

  九州工業大学大学院情報工学研究院

• 佐藤 康夫

  九州工業大学:jst Crest

• 佐藤 康夫

  九州工業大学

• 宮瀬 紘平

  科学技術振興機構

• WEN Xiaoqing

  Kyushu Institute of Technology

• Xiaoqing Wen

  Department Of Information Engineering Mining College Akita University

• Miyase K

  Kyushu Institute Of Technology

• Miyase Kohei

  Faculty Of Computer Science And Systems Engineering Kyushu Institute Of Technology

• YAMATO Yuta

  Kyushu Institute of Technology

• 古川 寛

  九州工業大学大学院情報工学研究院

• Yamashita Yoshiyuki

  Densotechno Co.

• 鈴木 達也

  九州工業大学情報工学部

• WEN Xiaoqing

  Faculty of Computer Science and Systems Engineering, Kyushu Institute of Technology

• Wen Xiaoqing

  Faculty Of Computer Science And Systems Engineering Kyushu Institute Of Technology

• Kajihara Seiji

  Faculty Of Engineering Osaka University

• 三浦 幸也

  首都大学東京

• MIYASE Kohei

  Kyushu Institute of Technology

• FURUKAWA Hiroshi

  Kyushu Institute of Technology

• WANG Laung-Terng

  SynTest

• 谷口 謙二郎

  九州工業大学情報工学部電子情報工学科

• 谷口 謙二郎

  九州工業大学大学院情報工学研究科

• Saluja Kewal

  Department Of Electrical And Computer Engineering University Of Wisconsin-madison

• Saluja Kewal

  Univ. Wisconsin‐madison Usa

• Kajihara Seiji

  Kyushu Insteitute Of Technology

• 松薗 誠

  九州工業大学大学院情報工学府情報システム専攻

• 山口 久登

  九州工業大学大学院情報工学府情報システム専攻:独立行政法人科学技術振興機構crest

• 松薗 誠

  九州工業大学大学院情報工学府情報システム専攻:独立行政法人科学技術振興機構crest

• Kajihara Seiji

  Kyushu Inst. Technol. Iizuka‐shi Jpn

• 山口 久登

  九州工業大学:独立行政法人科学技術振興機構crest

• 松薗 誠

  九州工業大学:独立行政法人科学技術振興機構crest

• 三浦 幸也

  首都大学東京システムデザイン学部情報通信システム工学コース:独立行政法人科学技術振興機構crest

• 松薗 誠

  九州工業大学

• 山口 久登

  九州工業大学

• SALUJA KEWAL

  Department of Electrical and Computer Engineering, University of Wisconsin-Madison

• 塔ノ上 義章

  九州工業大学情報工学部

• 皆本 義弘

  科学技術振興機構

• 高嶋 敦之

  九州工業大学大学院情報工学研究院

• 福澤 友晶

  九州工業大学情報工学部

• Kinoshita Kozo

  Faculty Of Informatics Osaka Gakuin University

• Kinoshita Kozo

  Faculty Of Engineering Osaka University

• MIYASE Kohei

  Faculty of Computer Science and Systems Engineering, Kyushu Institute of Technology

• 三浦 幸也

  首都大学東京システムデザイン学部

• Saluja Kewal

  Department Of Electrical & Computer Engineering Uw-madison

• 松永 裕介

  九州大学大学院システム情報科学研究院

• 吉村 正義

  九州大学大学院システム情報科学研究院

• 中村 優介

  パナソニックCCソフト株式会社

• KAJIHARA Seiji

  Kyushu Institute of Technology

• GIRARD Patrick

  LIRMM

• 野田 光政

  九州工業大学大学院情報工学府

• 宮瀬 鉱平

  九州工業大学大学院情報工学研究院

• 浜田 周治

  株式会社半導体理工学センター

• 森島 翔平

  九州工業大学

• Hatayama Kazumi

  Starc

• 吉村 正義

  福岡知的クラスター研究所

• 前田 敏行

  株式会社半導体理工学センター

• 松永 裕介

  九州大学 大学院システム情報科学研究院 情報工学部門

• 山口 久登

  九州工業大学大学院情報工学府情報システム専攻

• TAKASHIMA Atsushi

  Kyushu Institute of Technology

• NODA Kenji

  STARC

• ITO Hideaki

  STARC

• AIKYO Takashi

  STARC

• YAMATO Yuta

  Faculty of Computer Science and Systems Engineering, Kyushu Institute of Technology

• Yamato Yuta

  Faculty Of Computer Science And Systems Engineering Kyushu Institute Of Technology

• 宮瀬 絋平

  九州工業大学大学院

• 榎元 和成

  九州工業大学

• 王 森レイ

  九州工業大学大学院情報工学府情報システム専攻:独立行政法人科学技術振興機構crest

• 畠山 一実

  (株)半導体理工学研究センター

• 相京 隆

  (株)半導体理工学研究センター

• 玉本 英夫

  秋田大学工学資源学部情報工学科

• 樋上 喜信

  愛媛大学工学部情報工学科

• 高松 雄三

  愛媛大学工学部情報工学科

• 市原 英行

  広島市立大学情報科学部

• 奥 慎治

  九州工業大学

• 高松 雄三

  愛媛大学

• 市原 英行

  広島市立大学大学院情報科学研究科

• 山本 真裕

  九州工業大学

• TEHRANIPOOR Mohammad

  University of Connecticut

• レディ スダーカ

  アイオワ大学

• Reddy S

  Univ. Iowa Usa

• 相京 隆

  半導体理工学研究セ

• 相京 隆

  株式会社半導体理工学研究センター

• 樋上 喜信

  愛媛大学大学院

• 原口 雅史

  九州工業大学大学院情報工学研究院

• 畠山 一実

  株式会社半導体理工学研究センター

• 中村 優介

  九州工業大学大学院情報工学研究科

• サルージャ K.

  ウィスコンシン大学マディソン校

• SALUJA Kewal

  University of Wisconsin-Madison

• 藤井 秀雄

  九州工業大学大学院情報工学研究科

• 別府 厳

  九州工業大学大学院情報工学府

• KAJIHARA Seiji

  Department of Computer Science and Electronics of Kyushu Institute of Technology

• 福永 昌勉

  株式会社半導体理工学センター

• 別府 巌

  九州工業大学大学院情報工学府

• 樹下 行三

  大阪学院大学情報学部

• 奥 慎治

  九州工業大学:jst Crest

• 高松 雄三

  愛媛大学工学部

• サルージャ ケワール

  ウィスコンシン大学

• TERASHIMA Kenta

  Faculty of Computer Science and Systems Engineering, Kyushu Institute of Technology

• REDDY Sudhakar

  Department of Electrical and Computer Engineering, University of Iowa

• NAKAMURA Yusuke

  Faculty of Computer Science and Systems Engineering, Kyushu Institute of Technology

• SUZUKI Tatsuya

  Faculty of Information Sciences, Hiroshima City University

• 佐藤 康夫

  (株)半導体理工学研究センター

• 浜田 周治

  (株)半導体理工学研究センター

• 前田 敏行

  (株)半導体理工学研究センター

• 高取 厚夫

  (株)半導体理工学研究センター

• 野津山 泰行

  (株)半導体理工学研究センター

• 詫間 茜

  九州工業大学

• 佐藤 康夫

  株式会社半導体理工学センター

• MIYASE Kohei

  Innovation Plaza Fukuoka, Japan Science and Technology Agency

• 樹下 行三

  大阪学院大 情報

• Takeoka Sadami

  Semiconductor Company Matsushita Electric Industrial Co. Ltd.

• 坂井 僚太

  九州工業大学大学院

• 麻生 正雄

  ルネサスマイクロシステム株式会社

• 古川 寛

  ルネサスマイクロシステム株式会社

• 大和 勇太

  福岡県産業・科学技術振興財団

• FUKUNAGA Masayasu

  Graduate School of Computer Science and Systems Engineering, Kyushu Institute of Technology

• Terashima Kenta

  Faculty Of Computer Science And Systems Engineering Kyushu Institute Of Technology

• Fukunaga Masayasu

  Graduate School Of Computer Science And Systems Engineering Kyushu Institute Of Technology

• Suzuki Tatsuya

  Faculty Of Computer Science And Systems Engineering Kyushu Institute Of Technology:(present Office)d

• 内之段 裕太

  九州工業大学

• 大和 勇太

  奈良先端科学技術大学院大学

• Wu Fangmei

  LIRMM-University of Montpellier II/CNRS

• Dilillo Luigi

  LIRMM-University of Montpellier II/CNRS

• Bosio Alberto

  LIRMM-University of Montpellier II/CNRS

• Virazel Arnaud

  LIRMM-University of Montpellier II/CNRS

• Nakamura Yusuke

  Faculty Of Computer Science And Systems Engineering Kyushu Institute Of Technology

• YAMATO Yuta

  Fukuoka Industry, Science & Technology Foundation

• Girard Patrick

  Lirmm-university Of Montpellier Ii/cnrs

• 三宅 庸資

  九州工業大学大学院情報工学府情報システム専攻

• 加藤 隆明

  九州工業大学情報工学部電子情報工学科

• 王 森レイ

  九州工業大学大学院情報工学府情報システム専攻

• 田中 広彬

  九州工業大学

• 加藤 隆明

  九州工業大学情報工学部電子情報工学科:独立行政法人科学技術振興機構crest

• 王 森レイ

  九州工業大学:独立行政法人科学技術振興機構CREST

• 加藤 隆明

  九州工業大学:独立行政法人科学技術振興機構CREST

• 原口 雅史

  九州工業大学大学院 情報工学研究院

• 三宅 庸資

  九州工業大学:独立行政法人科学技術振興機構CREST

• YAMATO Yuta

  Fukuoka Industry Science Technology Foundation

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著作論文

• 部分X分解によるX故障モデルを用いた故障診断手法の高速化(故障モデル・故障許容・故障診断,VLSI設計とテスト及び一般)
• 3値テストパターンに対する遅延テスト品質計算とX割当について(遅延故障テスト,VLSI設計とテスト及び一般)
• 劣化検知テストにおけるパス選択について(テストII,デザインガイア2009-VLSI設計の新しい大地)
• 劣化検知テストにおけるパス選択について(テストII,デザインガイア2009-VLSI設計の新しい大地-)
• 論理回路の動作環境とトランジスタの劣化特性について(設計/テスト/検証)
• 順序回路用故障シミュレーションにおけるコンパイル方式の適用と効果について(セッション2 : 故障シミュレーションと故障診断, VLSI設計とテスト及び一般)
• ブロードサイドテストにおけるN回検出用テストパターンに対するX判定(デザインガアイ2006-VLSI設計の新しい大地を考える研究会)
• ブロードサイドテストにおけるN回検出用テストパターンに対するX判定(VLSIのテストI,デザインガイア2006-VLSI設計の新しい大地を考える研究会)
• ブロードサイドテストにおけるN回検出用テストパターンに対するX判定(VLSIのテストI,デザインガイア2006-VLSI設計の新しい大地を考える研究会)
• テスト生成における間接含意の効率的な生成方法(テスト,システム設計及び一般)
• テスト生成における間接含意の効率的な生成方法(テスト,システム設計及び一般)
• LSI回路のX故障によるPer-Test故障診断手法の拡張について(LSIの評価・診断・解析及び,品質)
• 低消費電力テストのための制約付テスト生成手法について(LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術,テスト技術,一般)
• 低消費電力テストのための制約付テスト生成手法について(LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術,テスト技術,一般)
• 低消費電力テストのための制約付テスト生成手法について
• スキャンテストにおけるキャプチャ時の低消費電力化に効果的なテスト集合変更について(VLSIの設計/検証/テスト及び一般(デザインガイア))
• スキャンテストにおけるキャプチャ時の低消費電力化に効果的なテスト集合変更について(VLSIの設計/検証/テスト及び一般(デザインガイア))
• スキャンテストにおけるキャプチャ時の低消費電力化に効果的なテスト集合変更について(VLSIの設計/検証/テスト及び一般(デザインガイア))
• スキャンBISTにおけるマルチサイクルテストと部分観測方式の提案と評価(テスト設計1,デザインガイア2010-VLSI設計の新しい大地-)
• スキャンBISTにおけるマルチサイクルテストと部分観測方式の提案と評価(テスト設計1,デザインガイア2010-VLSI設計の新しい大地-)
• 統計的遅延品質モデル(SDQM)のフィージビリティ評価(評価モデル,ディペンダブルコンピューティング論文)
• ブロードサイド方式におけるパス長を考慮した遷移故障用テストパターン生成について(欠陥ベーステスト,VLSI設計とテスト及び一般)
• 信号値遷移削減のためのドントケア判定率の最適化に関する研究(テストI,デザインガイア2009-VLSI設計の新しい大地-)
• 実速度スキャンテストにおけるキャプチャセーフテスト生成手法について(テスト生成,デザインガイア2008-VLSI設計の新しい大地)
• 実速度スキャンテストにおけるキャプチャセーフテスト生成手法について(テスト生成,デザインガイア2008-VLSI設計の新しい大地)
• 実速度スキャンテストにおけるキャプチャセーフテスト生成手法について(テスト生成,デザインガイア2008-VLSI設計の新しい大地-)
• 実速度スキャンテストにおけるキャプチャ時の低消費電力テスト生成手法について(テストと検証,デザインガイア2007-VLSI設計の新しい大地を考える研究会-)
• 実速度スキャンテストにおけるキャプチャ時の低消費電力テスト生成手法について(テストと検証,デザインガイア2007-VLSI設計の新しい大地を考える研究会-)
• 実速度スキャンテストにおけるキャプチャ時の低消費電力テスト生成手法について(テストと検証,デザインガイア2007-VLSI設計の新しい大地を考える研究会-)
• 多重スキャンツリー設計によるテストデータ量・テスト印加時間の削減(テスト容易化設計,システムLSI設計とその技術)
• 遷移遅延故障に対する高品質テスト生成手法について(セッション3 : テスト生成, VLSI設計とテスト及び一般)
• 信号値遷移削減のためのドントケア判定率の最適化に関する研究(テストI,デザインガイア2009-VLSI設計の新しい大地)
• High Launch Switching Activity Reduction in At-Speed Scan Testing Using CTX : A Clock-Gating-Based Test Relaxation and X-Filling Scheme
• 論理回路に対するテスト実行時間削減法
• フィールド高信頼化のためのアプローチ(LSIのテスト・評価技術)
• 中間故障電圧値を扱う故障シミュレーションの高速化について
• A Study of Capture-Safe Test Generation Flow for At-Speed Testing
• On Detection of Bridge Defects with Stuck-at Tests
• A Novel Per-Test Fault Diagnosis Method Based on the Extended X-Fault Model for Deep-Submicron LSI Circuits
• A Novel ATPG Method for Capture Power Reduction during Scan Testing(Dependable Computing)
• A Per-Test Fault Diagnosis Method Based on the X-Fault Model(Dependable Computing)
• A New Method for Low-Capture-Power Test Generation for Scan Testing(Dependable Computing)
• 実速度スキャンテストベクトルに対する遷移タイミング考慮キャプチャ安全性判定(低消費電力テスト・メモリテスト,VLSI設計とテスト及び一般)
• On Statistical Estimation of Fault Efficiency for Path Delay Faults Based on Untestable Path Analysis(Dependable Computing)
• テストベクトル変換手法を用いた低消費電力LOS実速度テスト(設計/テスト/検証)
• A GA-Based X-Filling for Reducing Launch Switching Activity toward Specific Objectives in At-Speed Scan Testing
• Distribution-Controlled X-Identification for Effective Reduction of Launch-Induced IR-Drop in At-Speed Scan Testing
• フィールドテストのための温度・電圧推定回路の試作評価 (ディペンダブルコンピューティング)
• マルチサイクルテスト構造を用いたキャプチャ電力の低減(テスト設計2,デザインガイア2011-VLSI設計の新しい大地-)
• マルチサイクルテスト構造を用いたキャプチャ電力の低減(テスト設計2,デザインガイア2011-VLSI設計の新しい大地-)
• パターンマージングによる遷移遅延故障用テストのパス遅延故障検出能力向上手法(低消費電力・遅延テスト・高精度欠陥推定,VLSI設計とテスト及び一般)
• フィールドテストのための温度・電圧推定回路の試作評価(ばらつき・フィールドテスト,VLSI設計とテスト及び一般)
• 低電力BISTにおけるシフトトグル率低減手法について(低消費電力・遅延テスト・高精度欠陥推定,VLSI設計とテスト及び一般)
• マルチサイクルBISTにおけるスキャン出力の電力低減手法 (ディペンダブルコンピューティング)
• ネットリストを用いたドントケアビット数の見積り手法に関する研究 (ディペンダブルコンピューティング)

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