相京 隆 | 株式会社半導体理工学研究センター

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概要

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関連著者

• 相京 隆

  株式会社半導体理工学研究センター

• 相京 隆

  半導体理工学研究セ

• 平出 貴久

  (株)富士通研究所

• 江守 道明

  富士通(株)

• 新井 雅之

  首都大学東京システムデザイン学部

• 岩崎 一彦

  首都大学東京システムデザイン学部

• 畠山 一実

  (株)半導体理工学研究センター

• 岩崎 一彦

  首都大学東京システムデザイン学部:首都大学東京大学院システムデザイン研究科

• 小西 秀明

  富士通(株)

• 新井 雅之

  首都大学東京 システムデザイン学部

• 岩崎 一彦

  首都大学東京 システムデザイン学部

• 福本 聡

  首都大学東京システムデザイン学部

• 畠山 一実

  株式会社半導体理工学研究センター

• 松尾 達

  (株)富士通研究所

• 相京 隆

  富士通(株)

• 新谷 道広

  (株)半導体理工学研究センター

• 相京 隆

  (株)半導体理工学研究センター

• 新谷 道広

  広島市立大学大学院情報科学研究科

• 新谷 道弘

  株式会社半導体理工学研究センター

• 相京 隆

  富士通株式会社 電子デバイス事業本部 Cad開発統括部

• 新谷 道広

  株式会社半導体理工学研究センター

• 江守 道明

  富士通株式会社

• 周藤 明史

  首都大学東京システムデザイン学部

• 中野 勝幸

  (株)半導体理工学研究センター

• 佐藤 高史

  東京工業大学統合研究院

• 益 一哉

  東京工業大学

• 樋上 喜信

  愛媛大学大学院理工学研究科

• 高橋 寛

  愛媛大学大学院理工学研究科

• 梶原 誠司

  九州工業大学情報工学部電子情報工学科

• 高橋 知之

  東京工業大学統合研究院

• 温 暁青

  九州工業大学

• 高松 雄三

  愛媛大学

• 相京 隆

  半導体理工学研究センター(STARC)

• 山本 剛

  富士通

• 高橋 寛

  愛媛大学大学院

• 山本 真裕

  九州工業大学

• 樋上 喜信

  愛媛大学大学院

• 植山 寛之

  東京工業大学統合研究院

• 上薗 巧

  東京工業大学統合研究院

• 黒瀬 洋介

  愛媛大学大学院理工学研究科電子情報工学専攻

• 大野 智志

  愛媛大学大学院理工学研究科電子情報工学専攻

• 山岡 弘典

  愛媛大学大学院理工学研究科電子情報工学専攻

• 清水 良浩

  株式会社半導体理工学研究センター

• 温 暁青

  九州工業大学:jst Crest

• 梶原 誠司

  九州工業大学:jst Crest

• 町田 泰秀

  (株)富士通

• 埜田 健治

  株式会社半導体理工学研究センター

• 伊藤 秀昭

  株式会社半導体理工学研究センター

• 森島 翔平

  九州工業大学

• 福永 昌勉

  株式会社半導体理工学センター

• 小西 秀明

  富士通株式会社

• 岡埜 靖

  富士通株式会社

• 山村 一之

  富士通株式会社

• 唐沢 直子

  富士通株式会社

• 板矢 剛一

  富士通株式会社

• 熊谷 淳子

  富士通株式会社

• 平出 貴久

  富士通研究所

• 佐藤 高史

  京都大学大学院情報学研究科

• 上薗 巧

  京都大学大学院情報学研究科:(独)日本学術振興会

• 梶原 誠司

  九州工業大学情報工学部電子情報工学科:九州工業大学マイクロ化システムセンター

• 梶原 誠司

  九州工業大学情報工学部電子情報工学科:九州工業大学マイクロ化総合技術センタ

• Kajihara S

  Kyushu Inst. Technol. Iizuka‐shi Jpn

• 山本 剛

  (株)富士通

• 西風 浩二

  (株)富士通

• 相京 隆

  (株)富士通

• 高橋 寛

  山形大 工

• 町田 泰秀

  富士通

• 岩崎 一彦

  首都大学東京システムデザイン学部|首都大学東京大学院システムデザイン研究科

• Takahashi Hiroshi

  The Authors Are With The Faculty Of Engineering Ehime University

• 梶原 誠司

  九州工業大学

• 新谷 道広

  京都大学大学院情報学研究科

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著作論文

• ゲート内抵抗性オープン欠陥に対する微小遅延故障モデル(欠陥ベーステスト,VLSI設計とテスト及び一般)
• D-10-16 統計的タイミング情報に基づく適応型テスト(D-10. ディペンダブルコンピューティング,一般セッション)
• スキャンベースBISTにおけるテストデータ100倍圧縮に関する検討(LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術,テスト技術,一般)
• 縮退故障用ATPGを用いた遷移故障の診断用テスト生成法(設計/テスト/検証,設計/テスト/検証)
• スキャンベースBISTにおけるテストデータ100倍圧縮に関する検討(LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術,テスト技術,一般)
• スキャンベースBISTにおけるテストデータ100倍圧縮に関する検討
• スキャンベースBISTにおけるテストデータ100倍圧縮に関する検討
• 統計的タイミング解析を用いたばらつき考慮テストメソドロジ (ディペンダブルコンピューティング)
• 事前見積りを利用した電力・ノイズ考慮テスト(インダストリアルセッション,設計/テスト/検証)
• 遷移遅延故障に対する高品質テスト生成手法について(セッション3 : テスト生成, VLSI設計とテスト及び一般)
• BAST : BIST Aided Scan Test : テストコスト削減のための新しい手法(テスト圧縮, LSIのテスト・診断技術論文)
• ATGおよびBIST技術を応用したテストコスト削減の新手法
• LSI故障診断システム
• 統計的タイミング解析を用いたばらつき考慮テストメソドロジ(フィールドテスト・製造ばらつき,VLSI設計とテスト及び一般)

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