植山 寛之 | 東京工業大学統合研究院

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概要

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• 東京工業大学統合研究院の論文著者

関連著者

• 佐藤 高史

  東京工業大学統合研究院

• 益 一哉

  東京工業大学

• 植山 寛之

  東京工業大学統合研究院

• 佐藤 高史

  京都大学大学院情報学研究科

• 高橋 知之

  東京工業大学統合研究院

• 中山 範明

  東京工業大学大学院 総合理工学研究科

• 新谷 道広

  (株)半導体理工学研究センター

• 新谷 道広

  広島市立大学大学院情報科学研究科

• 新谷 道弘

  株式会社半導体理工学研究センター

• 上薗 巧

  東京工業大学統合研究院

• 上薗 巧

  京都大学大学院情報学研究科:(独)日本学術振興会

• 新谷 道広

  京都大学大学院情報学研究科

• 畠山 一実

  (株)半導体理工学研究センター

• 相京 隆

  半導体理工学研究セ

• 相京 隆

  株式会社半導体理工学研究センター

• 新谷 道広

  株式会社半導体理工学研究センター

• 畠山 一実

  株式会社半導体理工学研究センター

• 萩原 汐

  東京工業大学統合研究院

• 中山 範明

  東京工業学学院総合理工学研究科

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著作論文

• D-10-16 統計的タイミング情報に基づく適応型テスト(D-10. ディペンダブルコンピューティング,一般セッション)
• D-10-17 適応型テストにおけるクリティカルパスのクラスタリング手法(D-10. ディペンダブルコンピューティング,一般セッション)
• A-3-2 論理セル遅延の電圧・プロセスばらつき感度の検討(A-3.VLSI設計技術,一般セッション)
• C-12-41 抵抗測定法によるトランジスタアレイ回路の測定時間短縮化(C-12.集積回路,一般セッション)
• A-3-14 リーク電流測定用トランジスタアレイ回路の測定(A-3. VLSI設計技術,一般セッション)
• A-1-8 大域ばらつきの近似次数が回路遅延ばらつきに与える影響(A-1.回路とシステム,一般講演)

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