A-3-2 論理セル遅延の電圧・プロセスばらつき感度の検討(A-3.VLSI設計技術,一般セッション)
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概要
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- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2008-09-02
著者
-
佐藤 高史
東京工業大学統合研究院
-
益 一哉
東京工業大学
-
高橋 知之
東京工業大学統合研究院
-
植山 寛之
東京工業大学統合研究院
-
萩原 汐
東京工業大学統合研究院
-
佐藤 高史
京都大学大学院情報学研究科
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