D-10-17 適応型テストにおけるクリティカルパスのクラスタリング手法(D-10. ディペンダブルコンピューティング,一般セッション)
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概要
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- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2009-03-04
著者
-
新谷 道広
(株)半導体理工学研究センター
-
佐藤 高史
東京工業大学統合研究院
-
益 一哉
東京工業大学
-
高橋 知之
東京工業大学統合研究院
-
新谷 道広
広島市立大学大学院情報科学研究科
-
新谷 道弘
株式会社半導体理工学研究センター
-
植山 寛之
東京工業大学統合研究院
-
上薗 巧
東京工業大学統合研究院
-
佐藤 高史
京都大学大学院情報学研究科
-
上薗 巧
京都大学大学院情報学研究科:(独)日本学術振興会
-
新谷 道広
京都大学大学院情報学研究科
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