ハフマン符号を用いたテスト応答圧縮について
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概要
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大規模LSIのテストデータの増加が原因で生じる,テスト実行時間の増加やテスタメモリの不足などの問題を軽減するため,被テスト回路内部でテストデータを圧縮・展開する手法が期待されている.本論文では,テストデータ圧縮・展開手法で利用可能な,ハフマン符号を用いたテスト出力応答の圧縮手法を提案する.提案手法では,正常な出力応答ベクトルだけでなく,誤り出力応答ベクトルも対象として符号化を行うため,応答圧縮による故障の影響の消滅(エイリアシング)は起こらない.また,提案手法は回路構造や故障モデルに依存しておらず,与えたテスト入力集合に対応する正常テスト出力応答集合だけを利用して,テスト応答圧縮器が設計可能である.計算機実験により,提案手法におけるテスト出力応答集合の圧縮率および,圧縮に必要なハードウェアオーバーヘッドを調べ,本手法の効果について考察する.
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2002-11-21
著者
-
井上 智生
広島市立大学情報科学部
-
新谷 道広
(株)半導体理工学研究センター
-
田村 秋雄
広島市立大学情報科学部
-
新谷 道広
広島市立大学大学院情報科学研究科
-
市原 英行
広島市立大学情報科学部
-
小原 敏敬
広島市立大学情報科学部
-
市原 英行
広島市立大学大学院情報科学研究科
-
井上 智生
広島市立大学大学院情報科学研究科
-
新谷 道広
京都大学大学院情報学研究科
-
井上 智生
広島市立大学大学院 情報科学研究科
-
市原 英行
広島市立大学大学院 情報科学研究科
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