故障の許容性に基づく閾値テスト生成のための回路モデル(安全性及び一般)
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概要
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近年のLSIの微細化,高性能化に伴いLSIの用途は幅広くなっており求められる信頼性も様々である.オーディオ,画像処理システム,ゲーム機などのように,故障が存在しても,わずかな誤りならば,目的とする処理に重大な影響を及ぼさないシステムも存在する.このような故障は許容故障と呼ばれ,許容故障を考慮したテスト生成手法も提案されている.本研究では,故障の許容性を考慮しない既存のATPGを用いて閾値テストパターンを生成する手法を提案する.テスト対象回路を変換することで得られる2つの回路モデル,許容故障判定モデルと閾値テスト生成モデルを提案し,その2つを用いテスト生成を行うことで,文献で提案されている閾値テストパターン生成に特化したテスト生成アルゴリズムを用いることなしに閾値テストパターン生成が可能となる.実験では,提案する回路モデルの有効性を示す.
- 2008-12-05
著者
-
井上 智生
広島市立大学情報科学部
-
市原 英行
広島市立大学情報科学部
-
市原 英行
広島市立大学大学院情報科学研究科
-
周藤 健太
広島市立大学大学院情報科学研究科
-
吉川 祐樹
広島市立大学大学院情報科学研究科
-
井上 智生
広島市立大学大学院情報科学研究科
-
井上 智生
広島市立大学大学院 情報科学研究科
-
市原 英行
広島市立大学大学院 情報科学研究科
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