テスト容易性と救済可能性を考慮した歩留まりモデルに関する考察(テストI,デザインガイア2009-VLSI設計の新しい大地-)
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概要
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LSIの微細化による過渡故障および永久故障の増加に伴い,LSIチップの歩留まり低下と市場不良の増加が問題となっている.この問題に対して,冗長設計による救済技術や効率的なテスト容易化設計技術が開発されている.本研究では,論理回路におけるテスト容易化設計と救済を目的とした冗長設計が,歩留まりと市場不良率に与える影響をモデル化し,これらの設計技術と製造コストおよび信頼性の関係について議論する.また,具体的な3つのテスト容易化設計手法と1つの冗長設計に対する提案モデルの適用例を示す.
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2009-11-25
著者
-
井上 智生
広島市立大学情報科学部
-
市原 英行
広島市立大学情報科学部
-
市原 英行
広島市立大学大学院情報科学研究科
-
吉川 祐樹
広島市立大学大学院情報科学研究科
-
井上 智生
広島市立大学大学院情報科学研究科
-
天野 雄二郎
広島市立大学大学院情報科学研究科
-
井上 智生
広島市立大学大学院 情報科学研究科
-
市原 英行
広島市立大学大学院 情報科学研究科
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