井上 智生 | 広島市立大学情報科学部
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概要
関連著者
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井上 智生
広島市立大学情報科学部
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井上 智生
広島市立大学大学院情報科学研究科
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市原 英行
広島市立大学情報科学部
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市原 英行
広島市立大学大学院情報科学研究科
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井上 智生
広島市立大学大学院 情報科学研究科
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市原 英行
広島市立大学大学院 情報科学研究科
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吉川 祐樹
広島市立大学大学院情報科学研究科
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田村 秋雄
広島市立大学情報科学部
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新谷 道広
(株)半導体理工学研究センター
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新谷 道広
広島市立大学大学院情報科学研究科
-
藤恵 里司
広島市立大学大学院情報科学研究科
-
野地 亮志
広島市立大学大学院情報科学研究科
-
新谷 道広
京都大学大学院情報学研究科
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藤原 秀雄
奈良先端科学技術大学院大学 情報科学研究科
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中島 佑介
広島市立大学情報科学部
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中島 佑介
広島市立大学大学院情報科学研究科
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小原 敏敬
広島市立大学情報科学部
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瀬戸原 志典
広島市立大学大学院情報科学研究科
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藤恵 里司
広島市大 大学院情報科学研究科
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野地 亮志
広島市大 大学院情報科学研究科
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越智 正邦
広島市立大学情報科学部
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深澤 祐樹
広島市立大学大学院情報科学研究科
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平本 和子
広島市立大学大学院情報科学研究科
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三浦 友和
広島市立大学大学院 情報科学研究科
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前田 香織
広島市立大学大学院情報科学研究科
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河野 英太郎
広島市立大学情報処理センター
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岩根 典之
広島市立大学情報科学部
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北村 俊明
広島市立大学大学院情報科学研究科
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末松 伸朗
広島市立大学情報科学部
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岡 伸也
広島市立大学大学院情報科学研究科
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天野 雄二郎
広島市立大学大学院情報科学研究科
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怒和 友美
広島市立大学大学院情報科学研究科
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岩本 由香
広島市立大学大学院情報科学研究科
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邊見 勇登
広島市立大学大学院情報科学研究科
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行松 健一
広島市立大学大学院情報科学研究科
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松本 俊
広島市立大学大学院情報科学研究科
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松浦 義則
広島市立大学情報科学部
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前田 香織
広島市立大学
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前田 香織
広島市立大学情報科学部
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藤原 秀雄
奈良先端科学技術大学院大学情報科学研究科
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河野 英太郎
広島市立大学
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周藤 健太
広島市立大学大学院情報科学研究科
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北村 俊明
広島市立大学
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OOI Chia
マレーシア工科大学
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高橋 智也
奈良先端科学技術大学院大学情報科学研究科
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岩根 典之
広島市立大学
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丸谷 瞬
広島市立大学大学院情報科学研究科
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宮口 拓己
広島市立大学大学院情報科学研究科
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出水 伸和
広島市立大学大学院情報科学研究科
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林 紘之
広島市立大学大学院情報科学研究科
-
岩根 典之
広島市立大学大学院情報科学研究科
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Ooi Chiayee
マレーシア工科大学
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末松 伸朗
広島市立大学大学院情報科学研究科
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志水 昂
広島市立大学大学院情報科学研究科
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三上 雄大
広島市立大学大学院情報科学研究科
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Das K
ジャダプール大学計算機科学・工学科
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佐野 ちいほ
奈良先端科学技術大学院大学情報科学研究科
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三原 隆宏
三菱電機コントロールソフトウェア株式会社
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K.DAS Debesh
ジャダプール大学計算機科学・工学科
-
Das Debesh
ジャダプール大学計算機科学・工学科
-
佐伯 友之
広島市立大学大学院情報科学研究科
-
三上 雄大
広島市立大学大学院 情報科学研究科
著作論文
- 両性人口モデルにおける反応拡散方程式を用いた人口分布の表現について
- 部分スルー可検査性に基づく順序回路のテスト生成法(ディペンダブルコンピューティング)
- マルチメディアコアの展開機能を利用したテストデータ圧縮・展開(デザインガアイ2006-VLSI設計の新しい大地を考える研究会)
- マルチメディアコアの展開機能を利用したテストデータ圧縮・展開(VLSIのテストI,デザインガイア2006-VLSI設計の新しい大地を考える研究会)
- テスト圧縮・展開手法におけるバッファ付き展開器について(LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術, テスト実装, 一般)
- テスト展開器のオーバヘッド削減のためのテストベクトルの並べ替えについて(VLSI設計とテスト)
- ハフマン符号に基づくテスト実行のためのテスト圧縮について
- ハフマン符号を用いたテスト応答圧縮について
- 故障の許容性に基づく閾値テスト生成のための回路モデル(安全性及び一般)
- 学究活動に不可欠になったキャンパスネットワーク構築の一事例
- 学究活動に不可欠になったキャンパスネットワーク構築の一事例
- ロバストテスト可能データパスを指向した高位合成におけるバインディング法(設計/テスト/検証)
- スイッチの機能を考慮した部分スルー可検査性に関する考察(設計/テスト/検証)
- マルチメディアコアの展開機能を利用したテストデータ圧縮・展開(VLSIのテストI,デザインガイア2006-VLSI設計の新しい大地を考える研究会)
- ディジタルフィルタにおける故障の許容性に関する考察(故障モデル・故障許容・故障診断,VLSI設計とテスト及び一般)
- SRAM型FPGAによる故障状況に適応可能な漸次縮退システムの実装(ディペンダブル設計,FPGA応用及び一般)
- SRAM型FPGAによる故障状況に適応可能な漸次縮退システムの実装(ディペンダブル設計,FPGA応用及び一般)
- SRAM型FPGAによる故障状況に適応可能な漸次縮退システムの実装(ディペンダブル設計,FPGA応用及び一般)
- テスト容易性と救済可能性を考慮した歩留まりモデルに関する考察(テストI,デザインガイア2009-VLSI設計の新しい大地)
- テスト容易性と救済可能性を考慮した歩留まりモデルに関する考察(テストI,デザインガイア2009-VLSI設計の新しい大地-)
- 閾値テストのための5値論理に基づくテスト生成アルゴリズムに関する考察(設計/テスト/検証,設計/テスト/検証)
- 組込み自己テストにおけるテスト可能な応答圧縮器の設計について(ディペンダブルコンピュータシステムとセキュリティ技術及び一般)
- 組込み自己テストにおけるテスト可能な応答圧縮器の設計について(ディペンダブルコンピュータシステムとセキュリティ技術及び一般)
- D-10-15 非可逆性を持つ画像圧縮アルゴリズムを利用したテストデータ圧縮・展開法(D-10. ディペンダブルコンピューティング,一般セッション)
- 故障の許容性に基づくテスト生成アルゴリズムの高速化(テスト生成,VLSI設計とテスト及び一般)
- 伝搬支配性に着目した遅延テストのためのハイブリッドスキャン設計(テスト容易化設計,デザインガイア2008-VLSI設計の新しい大地)
- テストデータ削減のための必須割当に基づくテストポイント挿入法(テスト容易化設計,デザインガイア2008-VLSI設計の新しい大地)
- テスト圧縮・展開手法におけるバッファ付き展開器について(LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術, テスト実装, 一般)
- ハフマン符号を用いたテスト応答圧縮について
- ハフマン符号を用いたテスト応答圧縮について
- 画像伸張回路を用いた組込みテスト生成に関する実験的考察(テスト設計1,デザインガイア2010-VLSI設計の新しい大地-)
- 画像伸張回路を用いた組込みテスト生成に関する実験的考察(テスト設計1,デザインガイア2010-VLSI設計の新しい大地-)
- テストデータ削減のための必須割当に基づくテストポイント挿入法(テスト容易化設計,デザインガイア2008-VLSI設計の新しい大地)
- 伝搬支配性に着目した遅延テストのためのハイブリッドスキャン設計(テスト容易化設計,デザインガイア2008-VLSI設計の新しい大地)
- テストデータ削減のための必須割当に基づくテストポイント挿入法(テスト容易化設計,デザインガイア2008-VLSI設計の新しい大地-)
- マルチサイクル故障に耐性を持つデータパスのためのバインディング法(高位設計1,デザインガイア2010-VLSI設計の新しい大地-)
- マルチサイクル故障に耐性を持つデータパスのためのバインディング法(高位設計1,デザインガイア2010-VLSI設計の新しい大地-)
- RC-010 組込み自己テストにおける救済可能テスト生成器(C分野:ハードウェア・アーキテクチャ,査読付き論文)
- RC-001 論理合成における面積・遅延最適化のためのフォールスパスの活用について(C分野:ハードウェア・アーキテクチャ,査読付き論文)
- 無閉路部分スキャン設計に基づくデータパスのテスト容易化高位合成におけるバインディング手法
- マルチメディアコアの展開機能を利用したテストデータ圧縮・展開
- 無閉路部分スキャン設計を指向した高位合成におけるスケジューリングについて
- 無閉路部分スキャン設計を指向した高位合成におけるスケジューリングについて
- 無閉路部分スキャン設計を指向した高位合成におけるスケジューリングについて
- 単一縮退故障用組合せテスト生成アルゴリズムを用いた無閉路順序回路のテスト生成
- 単一縮退故障用組合せテスト生成アルゴリズムを用いた無閉路順序回路のテスト生成
- 単一縮退故障用組合せテスト生成アルゴリズムを用いた無閉路順序回路のテスト生成
- ホールド機能を考慮した順序回路の部分スキャン設計法
- SRAM型FPGAによる故障状況に適応可能な漸次縮退システムの実装
- SRAM型FPGAによる故障状況に適応可能な漸次縮退システムの実装
- FPGAを用いた耐故障システムの信頼性と性能に関する考察(ディペンダブルコンピューティングシステム及び一般)
- FPGAを用いた耐故障システムの信頼性と性能に関する考察(ディペンダブルコンピューティングシステム及び一般)
- LSIテストにおける再構成可能な埋込み展開器について(設計手法と高性能化, リコンフィギャラブルシステム, 一般)