新谷 道広 | (株)半導体理工学研究センター
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概要
関連著者
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新谷 道広
(株)半導体理工学研究センター
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新谷 道広
広島市立大学大学院情報科学研究科
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新谷 道広
京都大学大学院情報学研究科
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佐藤 高史
京都大学大学院情報学研究科
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井上 智生
広島市立大学情報科学部
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市原 英行
広島市立大学情報科学部
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市原 英行
広島市立大学大学院情報科学研究科
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井上 智生
広島市立大学大学院情報科学研究科
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井上 智生
広島市立大学大学院 情報科学研究科
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市原 英行
広島市立大学大学院 情報科学研究科
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佐藤 高史
東京工業大学統合研究院
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田村 秋雄
広島市立大学情報科学部
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小原 敏敬
広島市立大学情報科学部
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畠山 一実
(株)半導体理工学研究センター
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新谷 道弘
株式会社半導体理工学研究センター
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越智 正邦
広島市立大学情報科学部
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相京 隆
半導体理工学研究セ
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相京 隆
株式会社半導体理工学研究センター
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益 一哉
東京工業大学
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高橋 知之
東京工業大学統合研究院
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植山 寛之
東京工業大学統合研究院
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新谷 道広
株式会社半導体理工学研究センター
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上薗 巧
東京工業大学統合研究院
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畠山 一実
株式会社半導体理工学研究センター
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上薗 巧
京都大学大学院情報学研究科:(独)日本学術振興会
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新井 雅之
首都大学東京システムデザイン学部
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岩崎 一彦
首都大学東京システムデザイン学部
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周藤 明史
首都大学東京システムデザイン学部
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中野 勝幸
(株)半導体理工学研究センター
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相京 隆
(株)半導体理工学研究センター
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岩崎 一彦
首都大学東京システムデザイン学部:首都大学東京大学院システムデザイン研究科
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岩崎 一彦
首都大学東京システムデザイン学部|首都大学東京大学院システムデザイン研究科
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新井 雅之
首都大学東京 システムデザイン学部
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岩崎 一彦
首都大学東京 システムデザイン学部
著作論文
- ゲート内抵抗性オープン欠陥に対する微小遅延故障モデル(欠陥ベーステスト,VLSI設計とテスト及び一般)
- テスト圧縮・展開手法におけるバッファ付き展開器について(LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術, テスト実装, 一般)
- テスト展開器のオーバヘッド削減のためのテストベクトルの並べ替えについて(VLSI設計とテスト)
- ハフマン符号に基づくテスト実行のためのテスト圧縮について
- ハフマン符号を用いたテスト応答圧縮について
- D-10-16 統計的タイミング情報に基づく適応型テスト(D-10. ディペンダブルコンピューティング,一般セッション)
- D-10-17 適応型テストにおけるクリティカルパスのクラスタリング手法(D-10. ディペンダブルコンピューティング,一般セッション)
- テスト圧縮・展開手法におけるバッファ付き展開器について(LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術, テスト実装, 一般)
- ハフマン符号を用いたテスト応答圧縮について
- ハフマン符号を用いたテスト応答圧縮について
- 統計的タイミング解析を用いたばらつき考慮テストメソドロジ(フィールドテスト・製造ばらつき,VLSI設計とテスト及び一般)
- プロセスばらつき推定に基づくIDDQテスト良品判定基準決定の試み (ディペンダブルコンピューティング)
- IDDQ電流による大域プロセスばらつきの推定手法 (VLSI設計技術)
- プロセスばらつき推定に基づくIDDQテスト良品判定基準決定の試み(ばらつき・フィールドテスト,VLSI設計とテスト及び一般)
- プロセスばらつき推定に基づくIDDQテスト良品判定基準決定の試み
- IDDQ電流による大域プロセスばらつきの推定手法(電力/電源解析,システムオンシリコンを支える設計技術)
- パラメータ推定に基づくIDDQ電流しきい値決定のオンラインテストに向けた高速化(ディペンダブル(1),システムオンシリコンを支える設計技術)