新谷 道弘 | 株式会社半導体理工学研究センター
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概要
関連著者
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新谷 道弘
株式会社半導体理工学研究センター
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新谷 道広
(株)半導体理工学研究センター
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新谷 道広
広島市立大学大学院情報科学研究科
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相京 隆
半導体理工学研究セ
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相京 隆
株式会社半導体理工学研究センター
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畠山 一実
(株)半導体理工学研究センター
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佐藤 高史
東京工業大学統合研究院
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益 一哉
東京工業大学
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高橋 知之
東京工業大学統合研究院
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植山 寛之
東京工業大学統合研究院
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上薗 巧
東京工業大学統合研究院
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佐藤 高史
京都大学大学院情報学研究科
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上薗 巧
京都大学大学院情報学研究科:(独)日本学術振興会
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新谷 道広
京都大学大学院情報学研究科
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新井 雅之
首都大学東京システムデザイン学部
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岩崎 一彦
首都大学東京システムデザイン学部
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周藤 明史
首都大学東京システムデザイン学部
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中野 勝幸
(株)半導体理工学研究センター
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相京 隆
(株)半導体理工学研究センター
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新谷 道広
株式会社半導体理工学研究センター
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畠山 一実
株式会社半導体理工学研究センター
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岩崎 一彦
首都大学東京システムデザイン学部:首都大学東京大学院システムデザイン研究科
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岩崎 一彦
首都大学東京システムデザイン学部|首都大学東京大学院システムデザイン研究科
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新井 雅之
首都大学東京 システムデザイン学部
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岩崎 一彦
首都大学東京 システムデザイン学部
著作論文
- ゲート内抵抗性オープン欠陥に対する微小遅延故障モデル(欠陥ベーステスト,VLSI設計とテスト及び一般)
- D-10-16 統計的タイミング情報に基づく適応型テスト(D-10. ディペンダブルコンピューティング,一般セッション)
- D-10-17 適応型テストにおけるクリティカルパスのクラスタリング手法(D-10. ディペンダブルコンピューティング,一般セッション)
- 統計的タイミング解析を用いたばらつき考慮テストメソドロジ (ディペンダブルコンピューティング)