相京 隆 | (株)半導体理工学研究センター

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概要

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関連著者

• 相京 隆

  (株)半導体理工学研究センター

• 相京 隆

  半導体理工学研究セ

• 畠山 一実

  (株)半導体理工学研究センター

• 相京 隆

  株式会社半導体理工学研究センター

• 相京 隆

  半導体理工学研究センター(STARC)

• 畠山 一実

  株式会社半導体理工学研究センター

• 新井 雅之

  首都大学東京システムデザイン学部

• 岩崎 一彦

  首都大学東京システムデザイン学部

• 周藤 明史

  首都大学東京システムデザイン学部

• 中野 勝幸

  (株)半導体理工学研究センター

• 新谷 道広

  (株)半導体理工学研究センター

• 樋上 喜信

  愛媛大学大学院理工学研究科

• 高橋 寛

  愛媛大学大学院理工学研究科

• 高松 雄三

  愛媛大学大学院理工学研究科

• 梶原 誠司

  九州工業大学情報工学部電子情報工学科

• 新谷 道広

  広島市立大学大学院情報科学研究科

• 新谷 道弘

  株式会社半導体理工学研究センター

• 小野 恭平

  愛媛大学大学院理工学研究科電子情報工学専攻博士前期課程

• 温 暁青

  九州工業大学

• 高松 雄三

  愛媛大学

• 高橋 寛

  愛媛大学大学院

• 山本 真裕

  九州工業大学

• 樋上 喜信

  愛媛大学大学院

• 岩崎 一彦

  首都大学東京システムデザイン学部:首都大学東京大学院システムデザイン研究科

• 大津 潤一

  愛媛大学大学院理工学研究科

• 清水 隆治

  (株)半導体理工学研究センター

• 温 暁青

  九州工業大学:jst Crest

• 梶原 誠司

  九州工業大学:jst Crest

• 埜田 健治

  株式会社半導体理工学研究センター

• 伊藤 秀昭

  株式会社半導体理工学研究センター

• 森島 翔平

  九州工業大学

• 福永 昌勉

  株式会社半導体理工学センター

• 清水 隆治

  (株)半導体理工学研究センター:(現)富士通マイクロエレクトロニクス(株)

• 梶原 誠司

  九州工業大学情報工学部電子情報工学科:九州工業大学マイクロ化システムセンター

• 梶原 誠司

  九州工業大学情報工学部電子情報工学科:九州工業大学マイクロ化総合技術センタ

• Kajihara S

  Kyushu Inst. Technol. Iizuka‐shi Jpn

• 高橋 寛

  山形大 工

• 岩崎 一彦

  首都大学東京システムデザイン学部|首都大学東京大学院システムデザイン研究科

• Takahashi Hiroshi

  The Authors Are With The Faculty Of Engineering Ehime University

• 梶原 誠司

  九州工業大学

• 高松 雄三

  愛媛大学大学院 理工学研究科

• 新井 雅之

  首都大学東京 システムデザイン学部

• 岩崎 一彦

  首都大学東京 システムデザイン学部

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著作論文

• ゲート内抵抗性オープン欠陥に対する微小遅延故障モデル(欠陥ベーステスト,VLSI設計とテスト及び一般)
• 検出可能な遅延故障サイズを考慮した遅延故障診断法(ディペンダブルコンピューティング)
• STARCにおけるLSIの故障診断の先端研究(LSIのテスト・評価技術)
• 事前見積りを利用した電力・ノイズ考慮テスト(インダストリアルセッション,設計/テスト/検証)
• 遷移遅延故障に対する高品質テスト生成手法について(セッション3 : テスト生成, VLSI設計とテスト及び一般)

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