高橋 寛 | 愛媛大学大学院
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概要
関連著者
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高橋 寛
愛媛大学大学院
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樋上 喜信
愛媛大学大学院
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高橋 寛
愛媛大学大学院理工学研究科
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樋上 喜信
愛媛大学大学院理工学研究科
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高橋 寛
山形大 工
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Takahashi Hiroshi
The Authors Are With The Faculty Of Engineering Ehime University
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高松 雄三
愛媛大学
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四柳 浩之
徳島大学大学院
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橋爪 正樹
徳島大学大学院
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高松 雄三
愛媛大学大学院 理工学研究科
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高松 雄三
愛媛大学大学院理工学研究科
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山崎 浩二
明治大学
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堤 利幸
明治大学
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四柳 浩之
徳島大学大学院ソシオテクノサイエンス研究部
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山崎 浩二
明治大学情報コミュニケーション学部
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橋爪 正樹
徳島大学大学院ソシオテクノサイエンス研究部 情報ソリューション部門
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四柳 浩之
徳島大学
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堤 利幸
明治大学大学院理工学研究科
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相京 隆
半導体理工学研究センター(STARC)
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相京 隆
愛媛大学大学院理工学研究科
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相京 隆
愛媛大学大学院 理工学研究科
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刈谷 泰由紀
明治大学大学院理工学研究科
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Yotsuyanagi Hiroyuki
Faculty Of Engineering The Univ. Of Tokushima
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Yotsuyanagi Hiroyuki
Dept. Of Information Solution Institute Of Technology And Science University Of Tokushima
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山崎 浩二
明治大学理工学部情報科学科
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堤 利幸
明治大学理工学部情報科学科
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堤 利幸
明治大学理工学部
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渡部 哲也
愛媛大学大学院
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酒井 孝郎
愛媛大学大学院
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四柳 浩之
徳島大学大学院ソシオテクノサイエンス研究部情報ソリューション部門
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相京 隆
(株)半導体理工学研究センター
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小林 真也
愛媛大学 工学部
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和泉 太佑
愛媛大学大学院理工学研究科
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小林 真也
愛媛大学大学院理工学研究科
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高松 雄三
愛媛大学理工学研究科電子情報工学専攻
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Saluja KewalK
Department of Electrical and Computer Engineering, University of Wisconsin - Madison
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小野 恭平
愛媛大学大学院理工学研究科電子情報工学専攻博士前期課程
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佐藤 康夫
九州工業大学
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首藤 祐太
愛媛大学大学院
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高棟 佑司
愛媛大学大学院
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門山 周平
愛媛大学大学院
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相京 隆
半導体理工学研究セ
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相京 隆
株式会社半導体理工学研究センター
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大津 潤一
愛媛大学大学院理工学研究科
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清水 隆治
(株)半導体理工学研究センター
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黒瀬 洋介
愛媛大学大学院理工学研究科電子情報工学専攻
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大野 智志
愛媛大学大学院理工学研究科電子情報工学専攻
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山岡 弘典
愛媛大学大学院理工学研究科電子情報工学専攻
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清水 良浩
株式会社半導体理工学研究センター
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吉川 達
愛媛大学大学院理工学研究科電子情報工学専攻
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山崎 浩二
明治大学 理工学部 情報科学科
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佐藤 康夫
九州工業大学大学院情報工学研究院
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清水 隆治
(株)半導体理工学研究センター:(現)富士通マイクロエレクトロニクス(株)
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サルージャ ケーワルk.
Department Of Electrical And Computer Engineering University Of Wisconsin - Madison
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Saluja Kewal
ウィスコンシン大学
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Saluja Kewal
ウィスコンシン大学マディソン校
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Saluja Kewal
Univ. Of Wisconsin-madison Dept. Of Electrical And Computer Engineering
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Saluja Kewal
ウイスコンシン大学
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古谷 博司
愛媛大学大学院理工学研究科
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Saluja Kewal
Department Of Electrical & Computer Engineering Uw-madison
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亀山 修一
富士通株式会社:愛媛大学
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馬場 雅之
富士通株式会社
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堤 利幸
明治大学 理工学部
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樋上 喜信
愛媛大学大学院 理工学研究科
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山崎 浩二
明治大学 情報コミュニケーション学部
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四柳 浩之
徳島大学大学院 先端技術科学教育部
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亀山 修一
愛媛大学大学院理工学研究科:富士通株式会社
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大栗 裕人
徳島大学大学院先端技術科学教育部システム創生工学専攻電気電子創生工学コース
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堤 利幸
明治大学{理工学部,情報コミュニケーション学部
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山崎 浩二
明治大学{理工学部,情報コミュニケーション学部
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樋上 善信
愛媛大学大学院理工学研究科
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大栗 裕人
徳島大学大学院先端技術科学教育部システム創生工学専攻
著作論文
- ゲートレベルを用いたトランジスタショートに対するテスト生成法(セッション3 : テスト生成, VLSI設計とテスト及び一般)
- 抵抗性オープン故障のモデル化とそのテスト生成について(テスト生成,VLSI設計とテスト及び一般)
- TEGチップのデジタル測定によるオープン故障のモデル化の検討(故障モデル・故障許容・故障診断,VLSI設計とテスト及び一般)
- 故障励起関数を利用したオープン故障の診断法(ディペンダブルコンピューティング)
- 隣接信号線を考慮したオープン故障のテストパターンについて(欠陥ベーステスト,VLSI設計とテスト及び一般)
- TEGチップを用いたオープン故障の解析(テスト生成,デザインガイア2008-VLSI設計の新しい大地)
- TEGチップを用いたオープン故障の解析(テスト生成,デザインガイア2008-VLSI設計の新しい大地)
- TEGチップを用いたオープン故障の解析(テスト生成,デザインガイア2008-VLSI設計の新しい大地-)
- オープン故障診断の性能向上について(設計/テスト/検証)
- 隣接信号線を考慮した動的なオープン故障に対する故障診断法(故障診断,VLSI設計とテスト及び一般)
- 論理回路の故障診断法 : 外部出力応答に基づく故障箇所指摘法の発展(ディペンダブルコンピューティング)
- 検出可能な遅延故障サイズを考慮した遅延故障診断法(ディペンダブルコンピューティング)
- 縮退故障用ATPGを用いた遷移故障の診断用テスト生成法(設計/テスト/検証,設計/テスト/検証)
- 組合せ回路に対する欠陥考慮テストパターンの一生成法(欠陥ベーステスト,VLSI設計とテスト及び一般)
- 遷移故障に対する診断用テスト生成法(故障診断,VLSI設計とテスト及び一般)
- D-10-8 活性化経路評価関数に基づくパターン選択(D-10.ディペンダブルコンピューティング,一般セッション)
- 欠陥検出テストのためのテストパターン選択(テスト生成,VLSI設計とテスト及び一般)
- オープン故障診断の性能向上について
- シグナルインティグリティ不良に対する実証的研究の試み(設計/テスト/検証)
- バンダリスキャンテスト実行時のIC内部の擾乱(研究速報)
- 半断線故障検出のための信号遅延の特性評価(遅延テスト, VLSI設計とテスト及び一般)
- シグナルインティグリティ不良に対する実証的研究の試み