半断線故障検出のための信号遅延の特性評価(遅延テスト, VLSI設計とテスト及び一般)
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概要
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半断線故障が発生すると,故障配線の信号遅延により回路性能が低下する場合がある しかし,故障配線に信号遷移を与える検査入力を印加しても論理回路動作が正常となる場合もあり,半断線故障の検出は困難である 本研究では,半断線故障の検出のために故障発生時の出力特性を電磁界シミュレーションを用いて調査した半断線故障発生時の出力信号へ影響を及ぼすと考えられる欠陥規模,隣接配線長およひ隣接配線への入力信号を考慮して,半断線故障を含む配線レイアウトを作成し,各要素が故障発生時の遅延時間に与える変化量を信号遅延解析結果より示す.
- 一般社団法人電子情報通信学会の論文
- 2013-02-06
著者
-
高橋 寛
愛媛大学大学院理工学研究科
-
四柳 浩之
徳島大学大学院
-
橋爪 正樹
徳島大学大学院
-
高橋 寛
愛媛大学大学院
-
高橋 寛
山形大 工
-
四柳 浩之
徳島大学
-
四柳 浩之
徳島大学大学院ソシオテクノサイエンス研究部
-
四柳 浩之
徳島大学大学院ソシオテクノサイエンス研究部情報ソリューション部門
-
大栗 裕人
徳島大学大学院先端技術科学教育部システム創生工学専攻電気電子創生工学コース
-
堤 利幸
明治大学{理工学部,情報コミュニケーション学部
-
山崎 浩二
明治大学{理工学部,情報コミュニケーション学部
-
樋上 善信
愛媛大学大学院理工学研究科
-
大栗 裕人
徳島大学大学院先端技術科学教育部システム創生工学専攻
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