テストの検出/非検出情報に基づくオープン故障の診断法(VLSI設計とテスト)
スポンサーリンク
概要
- 論文の詳細を見る
LSIの微細化技術の進展ならびに高集積化・多層化に伴い,配線の接続不良によるオープン故障のテストおよび診断が不可欠となっている.さらに最近ではBISTの導入が進み. BIST環境に適用できるオープン故障の有効な診断法の開発が望まれている. BIST環境においては,披検査回路の故障を検出するテストにおいて誤りを観測する外部出力を知ることは一般に困難である.そこで本研究では,テストが故障を検出するか(検出テスト)否か(非検出テスト)の検出/非検出情報のみを用いた分岐元信号線の単一オープン故障の診断法を提案する.提案する手法では,検出テストおよび非検出テストを用いて単一縮退故障シミュレーションを行い,分岐先信号線における縮退故障の検出回数に基づいて故障候補の分岐元信号線を推定する.さらに診断分解能を向上させるために,推定した分岐元信号線の分岐先信号線に対する多重縮退故障シミュレーションを検出テストで行い,検出回数を利用して故障候補を削減する. ISCAS85/89に対する実験結果では,1つの回路を除いて15個以下の故障候補が得られている.
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2004-02-13
著者
-
高橋 寛
愛媛大学大学院理工学研究科
-
樋上 喜信
愛媛大学工学部情報工学科
-
高橋 寛
愛媛大学工学部情報工学科
-
高松 雄三
愛媛大学工学部情報工学科
-
高松 雄三
愛媛大学
-
佐藤 雄一
愛媛大学大学院理工学研究科
-
樋上 喜信
愛媛大学大学院
-
高松 雄三
愛媛大学工学部
関連論文
- 抵抗性オープン故障のモデル化とそのテスト生成について (ディペンダブルコンピューティング)
- D-10-3 スキャン回路におけるクロストーク故障の検出可能性について(D-10. ディペンダブルコンピューティング,一般セッション)
- D-10-1 ハードウエアテスト生成ツールを用いた組み込みシステムのテストケース生成について(D-10. ディペンダブルコンピューティング,一般セッション)
- ゲートレベルを用いたトランジスタショートに対するテスト生成法(セッション3 : テスト生成, VLSI設計とテスト及び一般)
- 組合せ回路および順序回路に対する検出・非検出情報に基づく診断用テスト圧縮法(テスト容易化設計,システムLSI設計とその技術)
- 組合せ回路および順序回路に対する診断用テスト圧縮法(LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術, テスト技術)
- K-024 双方向性通信可能な個人向け情報配信システムの構築(K分野:ヒューマンコミュニケーション&インタラクション)
- 順序回路に対するテスト系列中のドントケア値発見とテスト圧縮・消費電力削減への応用について(LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術, テスト実装, 一般)
- 順序回路に対するテスト系列中のドントケア値発見とテスト圧縮・消費電力削減への応用について
- グラフィカル入力と文字入力を併用した待ち行列網モデルの記述表現法
- 故障励起関数を利用したオープン故障の診断法
- 抵抗性オープン故障のモデル化とそのテスト生成について(テスト生成,VLSI設計とテスト及び一般)
- TEGチップのデジタル測定によるオープン故障のモデル化の検討(故障モデル・故障許容・故障診断,VLSI設計とテスト及び一般)
- 故障励起関数を利用したオープン故障の診断法(ディペンダブルコンピューティング)
- 隣接信号線を考慮したオープン故障のテストパターンについて(欠陥ベーステスト,VLSI設計とテスト及び一般)
- TEGチップを用いたオープン故障の解析(テスト生成,デザインガイア2008-VLSI設計の新しい大地)
- TEGチップを用いたオープン故障の解析(テスト生成,デザインガイア2008-VLSI設計の新しい大地)
- TEGチップを用いたオープン故障の解析(テスト生成,デザインガイア2008-VLSI設計の新しい大地-)
- オープン故障診断の性能向上について(設計/テスト/検証)
- 隣接信号線を考慮した動的なオープン故障に対する故障診断法(故障診断,VLSI設計とテスト及び一般)
- 隣接信号線を考慮したオープン故障の一モデルとその故障診断(BISTと故障診断,VLSI設計とテスト及び一般)
- 検出/非検出情報に基づく複数故障モデルに対する故障診断法(故障診断, VLSI 設計とテスト及び一般)
- 検出/非検出情報に基づくオープン故障診断への誤り経路追跡法の適用(故障診断, VLSI 設計とテスト及び一般)
- 不確かなテスト集合の検出/非検出情報に基づくオープン故障の診断法(BIST と故障診断, VLSI 設計とテスト及び一般)
- 不確かなテスト集合の検出/非検出情報に基づくブリッジ故障の診断法(BIST と故障診断, VLSI 設計とテスト及び一般)
- 不確かなテスト集合によるブリッジ故障診断(テスト設計)(VLSIの設計/検証/テスト及び一般)(デザインガイア2004-VLSI設計の新しい大地を考える研究会)
- 不確かなテスト集合によるブリッジ故障診断(テスト設計)(VLSIの設計/検証/テスト及び一般)(デザインガイア2004-VLSI設計の新しい大地を考える研究会-)
- 不確かなテスト集合によるブリッジ故障診断(テスト設計)(VLSIの設計/検証/テスト及び一般)(デザインガイア2004-VLSI設計の新しい大地を考える研究会-)
- 不確かなテスト集合によるブリッジ故障診断(テスト設計)(VLSIの設計/検証/テスト及び一般)(デザインガイア2004-VLSI設計の新しい大地を考える研究会-)
- Pass/Fail情報を用いた単一ブリッジ故障の診断における診断テストと故障モデルの関係(VLSI設計とテスト)
- 論理回路の故障診断法 : 外部出力応答に基づく故障箇所指摘法の発展(ディペンダブルコンピューティング)
- 検出可能な遅延故障サイズを考慮した遅延故障診断法(ディペンダブルコンピューティング)
- 縮退故障用ATPGを用いた遷移故障の診断用テスト生成法(設計/テスト/検証,設計/テスト/検証)
- D-10-19 遅延故障シミュレーションに基づく欠陥診断(D-10. ディペンダブルコンピューティング,一般セッション)
- 組合せ回路に対する欠陥考慮テストパターンの一生成法(欠陥ベーステスト,VLSI設計とテスト及び一般)
- D-10-2 動的なオープン故障に対するテストパターン生成法(D-10. ディペンダブルコンピューティング,一般セッション)
- 遷移故障に対する診断用テスト生成法(故障診断,VLSI設計とテスト及び一般)
- D-10-2 縮退故障テストを利用したオープン故障のテスト生成法(D-10.ディペンダブルコンピューティング,一般講演)
- D-10-1 ハードウェア設計に対するソフトウェアメトリクスの適用(D-10.ディペンダブルコンピューティング,一般講演)
- CMOS回路における短絡故障の一モデルとそのテスト生成法
- 組合せ回路および順序回路に対する診断用テスト圧縮法(LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術, テスト技術)
- 順序回路に対するテスト系列中のドントケア値発見とテスト圧縮・消費電力削減への応用について(LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術, テスト実装, 一般)
- 組合せ回路におけるクリティカル経路の検出
- 組合せ回路におけるクリティカル経路の一検出法
- 分割した構造記述関数による組合せ回路の経路解析
- 遅延効果を用いた組合せ回路における冗長故障のテスト生成法
- 組合せ回路のタイミング解析におけるクリティカル経路の一検出法
- 組合せ回路のタイミング解析におけるクリティカル経路の一検出法
- 検出/非検出情報に基づくオープン故障の一診断法(ディペンダブルコンピューティング)
- テストの検出/非検出情報に基づくオープン故障の診断法(VLSI設計とテスト)
- 論理回路に対するテスト実行時間削減法
- BIST環境における不確かなテスト集合による単一縮退故障の一診断法(診断, LSIのテスト・診断技術論文)
- 不確かなテスト集合による多重縮退故障の診断(テスト設計)(VLSIの設計/検証/テスト及び一般)(デザインガイア2004-VLSI設計の新しい大地を考える研究会)
- 不確かなテスト集合による多重縮退故障の診断(テスト設計)(VLSIの設計/検証/テスト及び一般)(デザインガイア2004-VLSI設計の新しい大地を考える研究会-)
- 不確かなテスト集合による多重縮退故障の診断(テスト設計)(VLSIの設計/検証/テスト及び一般)(デザインガイア2004-VLSI設計の新しい大地を考える研究会-)
- 不確かなテスト集合による多重縮退故障の診断(テスト設計)(VLSIの設計/検証/テスト及び一般)(デザインガイア2004-VLSI設計の新しい大地を考える研究会-)
- 不確かな診断テスト集合による単一/多重縮退故障の診断法(VLSI設計とテスト)
- 電子ビームテスタを用いた順序回路の故障診断
- 複数の外部入力を変化させる活性化入力対の生成法について
- 組合せ回路の活性化入力化とその故障診断への応用
- 信号伝搬時間を利用した組合せ回路の多重縮退故障に対する一診断法
- 電子ビームテスタを用いた活性化入力対による組合せ回路の多重故障診断
- 活性化入力系列を用いた順序回路の故障診断に関する一考察
- 活性化入力系列を用いた順序回路の故障診断に関する一考察
- 活性化入力対を用いた組合せ回路の多重縮退故障の診断に関する一考察
- 単一活性化経路に基づく組合せ回路の多重縮退故障の診断法に関する一考察
- 不確かなテスト集合をもつBISTの故障診断法
- 順序回路のクロストークによる遅延故障に対する目標故障の一判別法
- FTS2000-24 縮退故障のテスト集合に基づくパス遅延故障の一テスト生成法
- 論理シミュレータを利用した単一設計誤りの一診断法
- 組合せ回路のゲート遅延故障に対する一診断法
- ゲート遅延故障シミュレーションを用いた単一ゲート遅延故障の一診断法 (テストと設計検証論文特集)
- 単一/多重故障シミュレーションに基づく組合せ回路の多重縮退故障に対する一診断法
- 単一/多重故障シミュレーションに基づく組合せ回路の多重縮退故障に対する一診断法
- 改良Booth法に基づく乗算回路のC-テスタブル設計について
- 改良Booth法に基づく乗算回路のC-テスタブル設計について
- 組合せ回路の微小なゲート遅延故障に対するテストとその生成法
- 組合せ回路の微小なゲート遅延故障に対するテスト生成
- 組合せ回路のゲート遅延故障に対する高分解能テストの生成
- 組合せ回路のタイミング解析におけるクリティカル経路問題について
- 組合せ回路の遅延故障に対するロバストテスト対生成法について
- Test generation for multiple fault diagnosis in one-dimensional iterative logic arrays
- 順序回路の前方テスト生成に対する一手法
- 順序回路のデ-タ構造について
- 論理回路に対するテストコスト削減法 : テストデータ量及びテスト実行時間の削減
- 順序回路のブリッジ故障に対するIDDQテストのための静的なテスト系列圧縮法 (テストと設計検証論文特集)
- D-10-8 活性化経路評価関数に基づくパターン選択(D-10.ディペンダブルコンピューティング,一般セッション)
- リセット機能を持つ順序回路に対するテスト系列圧縮法
- 論理回路の故障診断法 : 外部出力応答に基づく故障箇所指摘法の発展
- 順序回路に対する消費電力削減のためのテストベクトル変更法(システムLSIの設計技術と設計自動化)
- 2重縮退故障に対するテスト生成について
- 単一冗長故障を含む2重縮退故障に対するテスト生成について
- 単一冗長故障を含む2重縮退故障に対するテスト生成について
- 欠陥検出テストのためのテストパターン選択(テスト生成,VLSI設計とテスト及び一般)
- 招待講演 シグナルインティグリティ不良に対する実証的研究の試み (ディペンダブルコンピューティング)
- バウンダリスキャンテストにおける新たな課題 : 相互接続テスト中にIC内部で発生している問題の考察(テスト生成・レスト容易化設計,VLSI設計とテスト及び一般)
- 通信・放送融合における著著作権問題 : 裁判例と各国の比較から導く日本著作権法のあり方(情報管理・情報利用,インターネットと情報倫理教育,一般)
- 通信・放送融合における著著作権問題 : 裁判例と各国の比較から導く日本著作権法のあり方(情報管理・情報利用,インターネットと情報倫理教育,一般)
- バンダリスキャンテスト実行時のIC内部の擾乱(研究速報)
- 半断線故障検出のための信号遅延の特性評価(遅延テスト, VLSI設計とテスト及び一般)