不確かな診断テスト集合による単一/多重縮退故障の診断法(VLSI設計とテスト)
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概要
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組込み自己テスト(BIST)環境における縮退故障診断法について述べる. BISTにおいては,検査結果が高圧縮であるため,披検査回路の故障を検出するテスト(検出テスト)の集合として求められた診断テスト集合に被検査回路の故障を検出できないテスト(非検出テスト)が含まれる場合がある.我々は,既に,不確かな診断テスト集合で縮退故障の故障候補を推定する診断法を提案している[10].そこで,更に故障候補の数を減少させるために,本稿では,単一箱退故障の診断法において,1)検出回数に基づく故障候補の削減法および2)第一検出テストを利用した故障候補の削減法を新たに提案する.更に,多重縮退故障の診断に適用するためにテスト対を利用した手法を提案する.
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2004-02-13
著者
-
高橋 寛
愛媛大学大学院理工学研究科
-
樋上 喜信
愛媛大学工学部情報工学科
-
高橋 寛
愛媛大学工学部情報工学科
-
高松 雄三
愛媛大学工学部情報工学科
-
高松 雄三
愛媛大学
-
樋上 喜信
愛媛大学大学院
-
山本 幸大
愛媛大学大学院理工学研究科
-
高松 雄三
愛媛大学工学部
-
山本 幸大
愛媛大 大学院理工学研究科
-
綾野 秀和
愛媛大学大学院理工学研究科
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