FTS2000-24 縮退故障のテスト集合に基づくパス遅延故障の一テスト生成法
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概要
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論理回路の高速化に伴って, 回路の動作速度に影響を与える遅延故障に対するテストが重要になっている.特にパス遅延故障モデルに対するテストの生成が望まれている.しかしながら, テストの対象となるパスの数は膨大であるため各々のパスに対してテスト対を生成することは処理時間等の点で困難である.そこで, 本稿では, 縮退故障のテスト集合を利用してパス遅延故障に対するテストを生成する手法を提案する.まず, 縮退故障のテスト集合に基づいて, 一つのゲートの出力線に対してその信号変化を外部出力まで伝搬させるテスト対を複数個生成する手法を述べる.次に, 生成したテスト集合の単一パス遅延故障[7]に対する有効性をパス遅延故障シミュレータを用いて評価する.
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2000-07-29
著者
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