BIST環境における不確かなテスト集合による単一縮退故障の一診断法(診断, <小特集>LSIのテスト・診断技術論文)
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概要
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組込み自己テスト(BIST)環境においては, 検査結果として得られる出力署名が高圧縮であるため, 被検査回路の故障を検出するテスト(検出テスト)の集合として識別された検出テスト候補の集合に被検査回路の故障を検出しないテスト(非検出テスト)が誤って含まれてしまう場合がある. したがって, BIST環境で識別された検出テスト候補の集合は不確かな検出テスト集合となる. また, BIST環境では, どの外部出力において誤りを観測したかを知ることが困難である. そこで, 本論文では, BIST環境における不確かなテスト集合による単一縮退故障の診断法を提案する. 提案する故障診断法は, 誤りを観測する外部出力の位置とその故障値を診断に利用しないで, 単一縮退故障シミュレーションを用いた次の三つの手法で構成されている. (1)不確かな検出テスト集合及び非検出テスト集合で構成された不確かなテスト集合を用いた単一縮退故障シミュレーションの結果に基づいて故障候補を推定する手法, (2)不確かな検出テスト集合に誤って含まれた非検出テストの候補を推定する手法, 及び(3)単一縮退故障シミュレーションを利用して求めた故障候補の検出回数に基づいて故障候補数を削減する手法. 次に, ISCAS'85ベンチマーク回路及びフルスキャン化されたISCAS'89ベンチマーク回路に対する評価実験結果によって, 提案法が不確かなテスト集合を用いても短い処理時間で, ほとんどの故障回路に対して指摘した故障候補数を5個以下(平均故障候補数は2個程度)に抑えることができ, BIST環境における故障診断に適応可能であることを示す.
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2005-06-01
著者
-
高橋 寛
愛媛大学大学院理工学研究科
-
樋上 喜信
愛媛大学工学部情報工学科
-
高橋 寛
愛媛大学工学部情報工学科
-
高松 雄三
愛媛大学工学部情報工学科
-
高松 雄三
愛媛大学
-
樋上 喜信
愛媛大学大学院
-
山本 幸大
愛媛大学大学院理工学研究科
-
高松 雄三
愛媛大学工学部
-
山本 幸大
愛媛大 大学院理工学研究科
-
Takahashi Hiroshi
The Authors Are With The Faculty Of Engineering Ehime University
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