抵抗性オープン故障のモデル化とそのテスト生成について(テスト生成,VLSI設計とテスト及び一般)
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概要
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シグナルインティグリティに関する課題を解決するために,本稿では,抵抗性オープン故障検出のための拡張遅延故障モデルを提案する.まず,電磁界シミュレータによる抵抗性オープン故障の解析結果に基づいて拡張遅延故障モデルを提案する.拡張遅延故障モデルでは,故障信号線における信号変化の付加遅延量は隣接信号線の信号変化の影響を受ける.次に,ローンチオンキャプチャ方式のもとで,拡張遅延故障モデルに基づくテストパターン生成法を提案する.提案手法では,目標のオープン故障をもつ信号線の遷移故障テストパターンを利用して,抵抗性オープン故障に対するテストパターンを生成する.提案手法に対する評価実験結果から,与えられた遷移故障テストパターンでは検出できなかった抵抗性オープン故障に対するテストパターンを生成できたことを示す.
- 2010-02-08
著者
-
山崎 浩二
明治大学理工学部情報科学科
-
山崎 浩二
明治大学情報コミュニケーション学部
-
樋上 喜信
愛媛大学大学院理工学研究科
-
高橋 寛
愛媛大学大学院理工学研究科
-
高松 雄三
愛媛大学大学院理工学研究科
-
堤 利幸
明治大学大学院理工学研究科
-
堤 利幸
明治大学
-
首藤 祐太
愛媛大学大学院
-
高棟 佑司
愛媛大学大学院
-
四柳 浩之
徳島大学大学院
-
橋爪 正樹
徳島大学大学院
-
高松 雄三
愛媛大学
-
山崎 浩二
明治大学
-
高橋 寛
愛媛大学大学院
-
樋上 喜信
愛媛大学大学院
-
橋爪 正樹
徳島大学大学院ソシオテクノサイエンス研究部 情報ソリューション部門
-
高橋 寛
山形大 工
-
四柳 浩之
徳島大学
-
四柳 浩之
徳島大学大学院ソシオテクノサイエンス研究部
-
Yotsuyanagi Hiroyuki
Faculty Of Engineering The Univ. Of Tokushima
-
Yotsuyanagi Hiroyuki
Dept. Of Information Solution Institute Of Technology And Science University Of Tokushima
-
Takahashi Hiroshi
The Authors Are With The Faculty Of Engineering Ehime University
-
高松 雄三
愛媛大学大学院 理工学研究科
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