組合せ回路における論理故障のシミュレーションに基づく一診断法
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概要
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組合せ回路における単一論理故障を診断する簡単な手法を提案し,ISCAS'85のべンチマーク回路を使って性能を評価した.この手法は,まず外部出力で観測された誤りから誤りの発生源の候補を求め,次に可能な故障を推定し,最後にテスト中の回路には存在し得ない故障を削除するという手順から構成されている.処理が簡単であるため非常に短時間で診断解を求めることができるが,必ずしも十分な診断分解能の達成が保証されていない.従って,走査型電子顕微鏡や電子ビームテスタを使って実際の欠陥を正確に指摘する技術の前処理として有用であると思われる.
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 1996-12-25
著者
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