隣接信号線を考慮した動的なオープン故障に対する故障診断法(故障診断,VLSI設計とテスト及び一般)
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概要
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配線の微細化,長距離化に伴って,配線およびビアの断線(オープン)の欠陥によって生じる故障が顕在化している.本稿では,隣接信号線における信号変化によって励起する動的なオープン故障モデルおよびその故障診断法を提案する.まず,隣接信号線における信号変化によってオープン故障をもつ信号線に故障が励起する故障モデルを提案する.次に,動的なオープン故障モデルに基づく故障診断法を提案する.提案する故障診断法はフェイルテストパターンおよびパステストパターンを利用して故障候補を推定する.診断用故障シミュレーションの結果に基づいて故障候補の順位を決定する.最後に,提案した故障診断法をベンチマーク回路に適用した評価実験を行う.
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2008-02-01
著者
-
山崎 浩二
明治大学理工学部情報科学科
-
山崎 浩二
明治大学情報コミュニケーション学部
-
樋上 喜信
愛媛大学大学院理工学研究科
-
高橋 寛
愛媛大学大学院理工学研究科
-
高松 雄三
愛媛大学大学院理工学研究科
-
堤 利幸
明治大学大学院理工学研究科
-
堤 利幸
明治大学
-
四柳 浩之
徳島大学大学院
-
橋爪 正樹
徳島大学大学院
-
高松 雄三
愛媛大学
-
山崎 浩二
明治大学
-
相京 隆
半導体理工学研究センター(STARC)
-
渡部 哲也
愛媛大学大学院
-
相京 隆
愛媛大学大学院理工学研究科
-
門山 周平
愛媛大学大学院
-
高橋 寛
愛媛大学大学院
-
樋上 喜信
愛媛大学大学院
-
橋爪 正樹
徳島大学大学院ソシオテクノサイエンス研究部 情報ソリューション部門
-
四柳 浩之
徳島大学大学院ソシオテクノサイエンス研究部
-
Takahashi Hiroshi
The Authors Are With The Faculty Of Engineering Ehime University
-
高松 雄三
愛媛大学大学院 理工学研究科
-
相京 隆
愛媛大学大学院 理工学研究科
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