テスト生成における決定ノードの有効性解析(セッション3 : テスト生成, VLSI設計とテスト及び一般)
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概要
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多くのテスト生成アルゴリズムは後方追跡によって決定ノードを決定しているが,この決定処理で解の存在しない探索空間領域にある決定ノードを選択するとバックトラックが頻繁に発生する.それゆえ,含意ノードと呼ばれる解の探索空間を縮小するような決定ノードを用いたテスト生成アルゴリズムが提案されている.含意ノードを用いたテスト生成を効率化するためには,多数の外部入力を含意している含意ノードを探索することが効果的であると考えられる.本稿では,含意ノードが含意する外部入力数を解析し,含意ノードがテスト生成に与える影響について評価した.3つの含意ノード探索手法を実装し,ISCAS85ベンチマーク回路に適用し解除を行った.解析結果から含意ノードに含意される外部入力数,含意ノードのレベル,後方追跡時の選択・衝突回数がテスト生成に影響を与えることがわかった.
- 2007-02-02
著者
-
山崎 浩二
明治大学情報コミュニケーション学部
-
細川 利典
日本大学生産工学部
-
山崎 浩二
明治大学
-
大森 悠翔
富士通マイクロエレクトロニクス
-
吉村 正義
福岡知的クラスター研究所
-
大森 悠翔
日本大学大学院生産工学研究科
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