時間展開モデルを用いた無閉路順序回路のテスト系列圧縮方法 (テストと設計検証論文特集)
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概要
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無閉路順序回路に対するテスト系列は, 時間展開モデルを用いて生成することができる. 本論文では, 時間展開モデルを用いて生成されるテスト系列は(1)テスト系列長が一定である, (2)各外部入力に対する未定義値(X)が存在する位置がテスト生成の対象故障とは無関係に決まる, という性質に着目し, 静的圧縮, 動的圧縮の二つのテスト系列圧縮方法を提案する. まず, テスト系列の値に依存しないテンプレートを用いた静的テスト系列圧縮方法を提案する. また圧縮後のテスト系列を逆変換したテストパターンで, 時間展開モデルに対して故障シミュレーションを実行する逆変換故障シミュレーションによる動的テスト系列圧縮方法を提案する. いくつかの実際の回路にパーシャルスキャン設計を適用して作成した無閉路順序回路で本提案方法を評価した結果, テスト系列長を19〜34%に削減することができた.
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 1999-07-25
著者
-
平岡 敏洋
松下電器産業株式会社半導体開発本部:(現)京都大学大学院情報学研究科
-
井上 智生
奈良先端科学技術大学院大学 情報科学研究科
-
藤原 秀雄
奈良先端科学技術大学院大学 情報科学研究科
-
細川 利典
日本大学生産工学部
-
細川 利典
松下電器産業株式会社半導体開発本部
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