内蔵プロセッサを利用したマイクロコントローラのテスト高速化に関する考察
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概要
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マイクロコントローラなど複数の機能モジュールを内蔵するLSIでは, 一般に外部からテスタを用いて各モジュールをそれぞれ逐次的にテストを行うため, テストの実行に多くの時間を要する. 本論文では, マイクロコントローラのバス上にスイッチを設け, 内蔵CPU, 外部テスタによるテストを並列に実行させることで総テスト実行時間の短縮を行う方法を提案する. 複数のモジュール配置, モジュールのテストプログラム選択が考えられる場合のテスト実行時間最小化問題について考察を行い, 実行時間を最小にする最適なモジュール配置およびテストプログラム選択の方法を提案し, 実験によって有効性を示す.
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 1999-02-04
著者
-
大坪 裕
奈良先端科学技術大学院大学情報科学研究科
-
井上 智生
奈良先端科学技術大学院大学 情報科学研究科
-
福井 祥光
シャープ株式会社IC事業本部
-
藤原 秀雄
奈良先端科学技術大学院大学 情報科学研究科
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