井上 智生 | 奈良先端科学技術大学院大学 情報科学研究科
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概要
関連著者
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井上 智生
奈良先端科学技術大学院大学 情報科学研究科
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藤原 秀雄
奈良先端科学技術大学院大学 情報科学研究科
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細川 利典
日本大学生産工学部
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細川 利典
松下電器産業株式会社半導体開発本部
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平岡 敏洋
松下電器産業株式会社半導体開発本部:(現)京都大学大学院情報学研究科
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高橋 智也
奈良先端科学技術大学院大学情報科学研究科
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高崎 智也
奈良先端科学技術大学院大学 情報科学研究科
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大坪 裕
奈良先端科学技術大学院大学情報科学研究科
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福井 祥光
シャープ株式会社IC事業本部
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道西 博行
岡山理科大学工学部
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岡本 卓爾
岡山大学工学部
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横平 徳美
岡山大学工学部情報工学科
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横平 徳美
岡山大学工学部
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横平 徳美
岡山大学工学部通信ネットワーク工学科
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Das K
ジャダプール大学計算機科学・工学科
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佐野 ちいほ
奈良先端科学技術大学院大学情報科学研究科
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Das Debesh
ジャダプール大学計算機科学・工学科
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道西 博行
岡山理科大学工学部電気電子システム学科
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米澤 友紀
松下電器産業(株)半導体開発本部ITシステムLSI開発センター
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山崎 浩司
奈良先端科学技術大学院 大学情報科学研究科
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Das Debesh
Dept. of Comp. Sc. and Engg. Jadavpur University
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道西 博行
岡山大学大学院自然科学研究科
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道西 博行
岡山大学工学部情報工学科
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米澤 友紀
松下電器産業株式会社
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藤井 貴晴
奈良先端科学技術大学院大学
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三原 隆宏
三菱電機コントロールソフトウェア株式会社
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DAS K
Dept. of Comp. Sc, and Engg, Jadavpur University
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宮崎 聡士
奈良先端科学技術大学院大学情報科学研究科
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三原 隆宏
奈良先端科学技術大学院大学情報科学研究科
著作論文
- 内蔵プロセッサを利用したマイクロコントローラのテスト高速化に関する考察
- 状態並列に基づく順序回路テスト生成の並列処理について
- 無閉路部分スキャン設計を指向したデータパスのテスト容易化高位合成
- 内部平衡構造に基づく部分スキャン設計法に関する考察
- 組合せテスト生成可能な拡張部分スキャン設計
- 時間展開モデルを用いた無閉路順序回路のテスト系列圧縮方法 (テストと設計検証論文特集)
- 時間展開モデルを用いた無閉鎖順序回路のテスト系列圧縮について
- 時間展開モデルを用いた無閉路順序回路のテスト系列圧縮について
- 時間展開モデルを用いた無閉鎖順序回路のテスト系列圧縮について
- テーブル参照型FPGAにおける論理ブロックの検査法
- テーブル参照型FPGAのテスト
- テスト生成の並列処理における性能解析について
- ホールド機能を考慮した順序回路のテスト容易化設計法
- 内蔵プロセッサを利用したマイクロコントローラのテスト高速化に関する考察
- ホールド機能を考慮した順序回路のテスト容易化設計法
- テスト生成における並列処理の最適なシステム構成について
- L/H型レジスタを有する無閉路順序回路に対するテスト生成法
- 組合せATPGに基づくRTレベル部分スキャン設計法
- テーブル参照型FPGAに対する故障診断の複雑度