細川 利典 | 松下電器産業株式会社半導体開発本部
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概要
関連著者
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細川 利典
松下電器産業株式会社半導体開発本部
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平岡 敏洋
松下電器産業株式会社半導体開発本部:(現)京都大学大学院情報学研究科
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井上 智生
奈良先端科学技術大学院大学 情報科学研究科
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藤原 秀雄
奈良先端科学技術大学院大学 情報科学研究科
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細川 利典
日本大学生産工学部
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太田 光保
松下電器産業株式会社半導体開発本部
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村岡 道明
松下電器産業株式会社 半導体研究センター
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村岡 道明
半導体理工学研究センター
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細川 利典
日本大学生産工学部数理情報工学科半導体理工学研究センター
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松下電器産業(株)
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本原 章
松下電器産業株式会社 半導体研究センター
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高井 裕司
松下電器産業株式会社 半導体研究センター
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竹岡 貞巳
松下電器産業株式会社半導体社開発本部システムLSI技術統括部
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松本 道弘
松下電器産業株式会社 半導体研究センター
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吉村 正義
松下電器産業株式会社半導体開発本部
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竹岡 貞巳
松下電器産業株式会社 半導体開発本部
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東京大学工学部
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〆木 泰治
松下電器産業株式会社
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前川 英嗣
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前川 英嗣
松下電器産業(株)中央研究所
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新 誠一
東京大学
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萱島 一弘
松下電器産業(株)中央研究所
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川口 謙一
松下電器産業株式会社 半導体開発本部
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〆木 泰治
松下電器産業株式会社中央研究所
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〆木 泰治
松下電器産業(株)
著作論文
- RTレベルパーシャルスキャン設計システム : REPS
- 時間展開モデルを用いた無閉路順序回路の動的テスト系列圧縮方法の解析(電子システムの設計技術と設計自動化)
- 共分散行列を用いたステートマシンの状態探索手法
- 時間展開モデルを用いた無閉路順序回路のテスト系列圧縮方法 (テストと設計検証論文特集)
- Full Top Down Design for Testability Using Multi-Level Partial Scan Design
- 動作機能図入力システム環境でのテスト容易化
- パーシャルスキャン設計による平衡再収斂構造のテスタビリティ評価 (電子システムの設計技術と設計自動化)
- 時間展開モデルを用いた無閉鎖順序回路のテスト系列圧縮について
- 時間展開モデルを用いた無閉路順序回路のテスト系列圧縮について
- 時間展開モデルを用いた無閉鎖順序回路のテスト系列圧縮について
- テスト容易化設計のためのRTL回路分割手法
- 組合せATPGに基づくRTレベル部分スキャン設計法