時間展開モデルを用いた無閉路順序回路の動的テスト系列圧縮方法の解析(<特集>電子システムの設計技術と設計自動化)
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概要
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無閉路順序回路に対するテスト系列生成は, 時間展開モデルを用いて生成することができ, 生成された無閉路順序回路全体のテスト系列から逆変換パターンを生成し, 故障シミュレーションを実行して, 未検出故障数を削減することにより, 動的に無閉路順序回路のテスト系列長を短縮することができる.本論文では、逆変換パターンで多くの未検出故障を検出するために, 逆変換パターンはドントケア(X)を含む可能性があるという点に着目して, 逆変換パターンとATPGパターンを時間展開モデルの圧縮バッファを用いて圧縮する動的テスト系列圧縮方法を提案する.またテスト系列圧縮はテスト系列中のXの数が多いほど圧縮効率が高くなる可能性があるという点に着目したテスト系列圧縮方法を提案する.実際の回路に対して本提案手法を適用した結果, テスト系列長を34〜67%まで短縮することができた.
- 2000-04-15
著者
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