共分散行列を用いたステートマシンの状態探索手法

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概要

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制御理論に基づく状態探索アルゴリズムと、順序回路の自動テスト生成への適用方法について報告する。本手法では、次状態と過去に到達した各状態との距離を大きくするような入力を探索することにより、短い入力系列で多くの状態を探索する。評価関数として、次状態と既到達の各状態との内積の自乗和を用い、その計算を高速に行なうために既到達状態を共分散行列で表現する。また、評価関数を下げるような入力を求めるために、微分探索法を用いている。これらの手法を実現し、ベンチマーク回路に適用した結果から、本手法により、多くの状態が効率よく探索できることがわかり、また、テスト生成の故障検出率向上にも非常に効果的であることがわかった。
社団法人電子情報通信学会の論文
1994-03-10

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