太田 光保 | 松下電器産業株式会社半導体開発本部

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概要

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関連著者

• 太田 光保

  松下電器産業株式会社半導体開発本部

• 細川 利典

  松下電器産業株式会社半導体開発本部

• 竹岡 貞巳

  松下電器産業株式会社半導体社開発本部システムLSI技術統括部

• 吉村 正義

  松下電器産業株式会社半導体開発本部

• 竹岡 貞巳

  松下電器産業株式会社 半導体開発本部

• 村岡 道明

  松下電器産業株式会社 半導体研究センター

• 村岡 道明

  半導体理工学研究センター

• 細川 利典

  日本大学生産工学部数理情報工学科半導体理工学研究センター

• 平岡 敏洋

  松下電器産業株式会社半導体開発本部:(現)京都大学大学院情報学研究科

• 村上 敦

  九州工業大学 情報工学部 電子情報工学科

• 梶原 誠司

  九州工業大学情報工学部電子情報工学科

• 細川 利典

  日本大学生産工学部

• 高井 裕司

  松下電器産業株式会社 半導体研究センター

• ポメランツ イリス

  School of Electrical and Computer Engineering, Purdue University

• 松本 道弘

  松下電器産業株式会社 半導体研究センター

• レディ スダーカ

  アイオワ大学 電気コンピュータ学科

• 梶原 誠司

  九州工業大学:jst Crest

• 本原 章

  松下電器産業(株)

• ポメランツ イリス

  パドゥ大学 電気コンピュータ工学科

• レディー スダーカ・M.

  アイオワ大学 電気コンピュータ工学科

• 本原 章

  松下電器産業株式会社 半導体研究センター

• 川口 謙一

  松下電器産業株式会社 半導体開発本部

• スダーカ M.レディ

  アイオワ大学電気コンピュータ学科

• ポメランツ イリス

  School Of Electrical And Computer Engineering Purdue University

• 梶原 誠司

  九州工業大学

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著作論文

• ATPGパターン数削減指向テストポイント挿入方法
• RTレベルパーシャルスキャン設計システム : REPS
• 時間展開モデルを用いた無閉路順序回路の動的テスト系列圧縮方法の解析(電子システムの設計技術と設計自動化)
• ショーパスディレイ : 故障モデルとテスト生成
• Full Top Down Design for Testability Using Multi-Level Partial Scan Design
• パーシャルスキャン設計による平衡再収斂構造のテスタビリティ評価 (電子システムの設計技術と設計自動化)
• テスト容易化設計のためのRTL回路分割手法

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